日韩av大片在线观看欧美成人不卡|午夜先锋看片|中国女人18毛片水多|免费xx高潮喷水|国产大片美女av|丰满老熟妇好大bbbbbbbbbbb|人妻上司四区|japanese人妻少妇乱中文|少妇做爰喷水高潮受不了|美女人妻被颜射的视频,亚洲国产精品久久艾草一,俄罗斯6一一11萝裸体自慰,午夜三级理论在线观看无码

您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)

| 注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏該商鋪

13544051612

products

首頁>>深圳市達瑞博電子有限公司>>產(chǎn)品展示>>光學儀器及設備

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    HMI eScan 315 晶圓檢測儀是一款由HMI公司制造的自動化晶圓和掩模檢查設備,，旨在為圖案化晶圓和光罩檢查過程提供經(jīng)濟高效的解決方案,。該系統(tǒng)采用專有的P...
    型號： eScan 315 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    自動化晶圓掩模檢查圖案化晶圓光罩檢查全面的缺陷審查
    2024/9/23 20:58:59497

  • 光學顯微鏡 參考價：面議

    OLYMPUS AL3110 光學顯微鏡是一款多功能的顯微鏡,，適用于多種應用領域.OLYMPUS AL3110 顯微鏡設計用于提供高精度和圖像質(zhì)量，廣泛應用于生...
    型號： AL3110 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    多功能OLYMPUS/奧林巴斯高精度高分辨率CCD相機機動聚焦
    2024/9/23 20:57:16338

  • 光學顯微鏡 參考價：面議

    OLYMPUS AL2100 光學顯微鏡是一款高性能的顯微鏡,，具有多種功能和用途。AL2100顯微鏡具有明場,、暗場,、偏振光、熒光和相位對比度成像能力,。它還配備了...
    型號： AL2100 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    放大倍率范圍從5倍到1000倍明場暗場200mm晶圓檢測OLYMPUS/奧林巴斯
    2024/9/23 20:54:50425

  • 光學顯微鏡 參考價：面議

    OLYMPUS AL2000 光學顯微鏡是一款由奧林巴斯公司生產(chǎn)的顯微鏡,，具有多種應用和功能。此顯微鏡特別適用于晶圓檢測,，是一種晶圓檢查顯微鏡,，適用于半導體行業(yè)...
    型號： AL2000 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    奧林巴斯通用顯微鏡高速掃描高級照明明場和暗場模式
    2024/9/23 20:52:24445

  • 光學顯微鏡 參考價：面議

    OLYMPUS AL120 光學顯微鏡是一種用于半導體晶圓搬送及檢測的顯微鏡系統(tǒng)，具有多種型號和配置,，以滿足不同尺寸和需求的晶圓處理,。
    型號： AL120 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓搬送及檢測奧林巴斯MX專業(yè)晶圓檢查顯微鏡微分干涉（DIC）近紅外線（IR）深紫外線（DUV）
    2024/9/23 20:50:16379

  • 光學顯微鏡 參考價：面議

    Nikon OST 3200 光學顯微鏡是一款多功能的光學顯微鏡和晶圓檢測設備，廣泛應用于研究,、臨床和教學領域,。Nikon OST-3200 提供了圖像質(zhì)量和優(yōu)...
    型號： OST 3200 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    多功能光學顯微鏡晶圓檢測設備掩模缺陷
    2024/9/23 20:48:03412

  • 光學顯微鏡 參考價：面議

    Nikon OST 3100 光學顯微鏡是一種用于半導體檢測的顯微鏡系統(tǒng)，專為300mm晶圓設計,。高分辨率成像：它能夠提供高分辨率,、三維動態(tài)變焦和溫度控制的樣本...
    型號： OST 3100 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    半導體檢測光學顯微鏡300mm晶圓高分辨率成像三維動態(tài)變焦
    2024/9/23 20:45:50654

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    THERMA-WAVE TP 630 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量設備，廣泛應用于半導體,、數(shù)據(jù)存儲和光伏產(chǎn)業(yè),。該設備具備多種尖duan技術，能夠提供高精...
    型號： THERMA-WA... 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    THERMA-WAVE TP 630晶圓測試和計量紅外激光掃描光學器件雙色高溫計紅外成像技術和分析技術
    2024/9/23 20:43:40572

  • 光學計量儀 參考價：面議

    KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光學計量儀是一種先進的半導體晶圓測試和計量設備,，主要用于精確測量半導體晶圓的特征尺寸和形狀,。該系統(tǒng)采...
    型號： Spectra-S... 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓測試和計量CD測量和形狀測量自動非接觸式2D（高度）測量非接觸式計量工具缺陷審查
    2024/9/23 20:42:06382

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor Puma 9100 晶圓檢測儀是一款先進的半導體晶圓測試和計量設備，廣泛應用于生產(chǎn)及研發(fā)領域,。該設備具有高精度和可重復性的特點,，能夠提供精...
    型號： Puma 9100 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓測試和計量設備自動化樣品處理能力微米級測量暗場缺陷檢測高精度和可重復性
    2024/9/23 20:40:21462

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor Puma 9000 晶圓檢測儀是一款優(yōu)良的晶圓檢測和計量設備，廣泛應用于半導體制造業(yè),。該系統(tǒng)利用KLA-Tencor創(chuàng)新的Streak&t...
    型號： Puma 9000 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測和計量Streak™暗視野成像技術高分辨率成像光學掃描高速成像技術
    2024/9/23 20:38:50719

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測儀是一款優(yōu)良的晶圓測試和計量設備,，主要用于半導體行業(yè)的高精度檢測。該系統(tǒng)采用超紫外（UV）模式匹配技術和最新一代的...
    型號： AIT XUV 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓測試和計量超紫外（UV）模式1/10000毫米大小激光掃描雙暗場光學檢查
    2024/9/23 20:37:04477

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor AIT XP 晶圓檢測儀是一款功能強大且高效的晶圓測試和計量設備，通過其先進的檢測技術,、自動化功能和模塊化設計,，能夠顯著提升半導體制造過程...
    型號： AIT XP 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    圖案化晶圓晶圓測試和計量暗場顯微鏡技術缺陷檢測掩模
    2024/9/23 20:34:54481

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor AIT II 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量系統(tǒng)，專為半導體行業(yè)設計,。該系統(tǒng)具有多種功能和特點,，使其在晶圓缺陷檢測和過程控制方面表現(xiàn)...
    型號： AIT II 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓測試和計量200mm、300mm甚至450mm雙暗場檢查工具SECS/GEM通信接口缺陷檢查
    2024/9/23 20:32:34539

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor AIT I 晶圓檢測儀是一種用于檢測圖案化晶圓表面缺陷的系統(tǒng),。該系統(tǒng)配置為處理6英寸（150毫米）和8英寸（200毫米）的晶圓,，并具備自動...
    型號： AIT I 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    圖案化晶圓表面缺陷6英寸（150毫米）8英寸（200毫米）自動對焦雙暗場檢查
    2024/9/23 20:30:30425

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor 2351 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓和掩模檢測系統(tǒng)，廣泛應用于半導體制造行業(yè),。該系統(tǒng)具備多種功能,，包括高分辨率成像、自動化分析以及專門的缺...
    型號： 2351 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測儀KLA-Tencor掩模檢測系統(tǒng)缺陷檢測200mm晶圓尺寸
    2024/9/23 20:28:10575

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor 2135 晶圓檢測儀是一種高duan的掩模和晶圓檢測系統(tǒng),，具有多種先進技術和高靈敏度成像功能,。以下是其詳細規(guī)格參數(shù)：用途：主要用于圖案化晶...
    型號： 2135 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測儀KLA-Tencor晶圓檢測系統(tǒng)缺陷檢測晶片表面映射
    2024/9/23 20:25:59457

  • 顆粒檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測儀是一款先進的掩模和晶圓檢測設備，廣泛應用于集成電路(IC)制造過程中的缺陷檢測與分類,。該系統(tǒng)采用先進的...
    型號： SP2 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    顆粒檢測儀晶圓檢測KLA-Tencor缺陷檢測晶圓檢測儀
    2024/9/23 20:23:34739

  • 顆粒檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測儀是一種用于晶圓檢測和計量的系統(tǒng),，廣泛應用于半導體制造領域。該設備由KLA-Tencor公司生產(chǎn),，具有多種功能和特...
    型號： SFS6420 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    顆粒檢測儀KLA-Tencor晶圓檢測表面分析計量
    2024/9/23 20:21:29464

  • 橢圓偏光儀 參考價：面議

    RUDOLPH S3000A 橢圓偏光儀是一種高性能的橢圓偏光計，廣泛應用于半導體行業(yè),。以下是其詳細規(guī)格參數(shù)：波長：該設備配備532nm的激光源,。樣品尺寸：適用...
    型號： S3000A 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    橢圓偏光儀Rudolph Technologies魯?shù)婪蚣夹g12英寸晶圓薄膜
    2024/9/23 20:19:34412

  • 薄膜厚度測試儀 參考價：面議

    Rudolph MP300 薄膜厚度測試儀是一種高性能的晶圓測試和計量設備，廣泛應用于半導體制造行業(yè),。以下是其詳細規(guī)格參數(shù)：類型：晶圓測試和計量設備,。用途：用于...
    型號： MP-300 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    薄膜厚度測試Rudolph Technologies魯?shù)婪?/span>晶圓測試計量設備Cu薄膜厚度測量
    2024/9/23 20:17:10499

  • 薄膜厚度測試儀 參考價：面議

    Rudolph MP200薄膜厚度測試儀是一款由Rudolph Technologies制造的薄膜厚度測量設備型號：Rudolph MP200 。制造商：Rud...
    型號： MP-200 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    薄膜厚度晶圓測試Rudolph Technologies魯?shù)婪蚣夹g計量系統(tǒng)晶圓大小: 8“
    2024/9/23 20:15:30392

  • 掃描電子顯微鏡 參考價：面議

    Applied Materials CX 200 掃描電子顯微鏡設備概述型號: SEMVision CX 200制造商: Applied Materials應用...
    型號： CX 200 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    Applied Materials掃描電子顯微鏡光學檢查機器0.2 NA光學系統(tǒng)半導體檢測設備
    2024/9/23 20:13:20622
1共1頁,23條記錄 跳轉(zhuǎn)

會員登錄

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

標簽：
保存成功

(空格分隔,最多3個,單個標簽最多10個字符)

常用：

提示

您的留言已提交成功,！我們將在第一時間回復您~
在線留言