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薄膜厚度測(cè)試儀 參考價(jià):面議
Rudolph MP300 薄膜厚度測(cè)試儀是一種高性能的晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造行業(yè),。以下是其詳細(xì)規(guī)格參數(shù):類型:晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,。用途:用于...薄膜厚度測(cè)試儀 參考價(jià):面議
Rudolph MP200薄膜厚度測(cè)試儀是一款由Rudolph Technologies制造的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備型號(hào):Rudolph MP200 ,。制造商:Rud...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)