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晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
THERMA-WAVE TP 630 晶圓檢測(cè)儀是一種先進(jìn)的晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體,、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和光伏產(chǎn)業(yè)。該設(shè)備具備多種尖duan技術(shù),，能夠提供高精...
型號(hào)： THERMA-WA... 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商所在地：深圳市對(duì)比

THERMA-WAVE TP 630晶圓測(cè)試和計(jì)量紅外激光掃描光學(xué)器件雙色高溫計(jì)紅外成像技術(shù)和分析技術(shù)

2024/9/23 20:43:40470
光學(xué)計(jì)量?jī)x 參考價(jià)：面議
KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光學(xué)計(jì)量?jī)x是一種先進(jìn)的半導(dǎo)體晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,，主要用于精確測(cè)量半導(dǎo)體晶圓的特征尺寸和形狀,。該系統(tǒng)采...
型號(hào)： Spectra-S... 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商所在地：深圳市對(duì)比

半導(dǎo)體晶圓測(cè)試和計(jì)量CD測(cè)量和形狀測(cè)量自動(dòng)非接觸式2D（高度）測(cè)量非接觸式計(jì)量工具缺陷審查

2024/9/23 20:42:06327
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor Puma 9100 晶圓檢測(cè)儀是一款先進(jìn)的半導(dǎo)體晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)及研發(fā)領(lǐng)域,。該設(shè)備具有高精度和可重復(fù)性的特點(diǎn),，能夠提供精...
型號(hào)： Puma 9100 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商所在地：深圳市對(duì)比

半導(dǎo)體晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備自動(dòng)化樣品處理能力微米級(jí)測(cè)量暗場(chǎng)缺陷檢測(cè)高精度和可重復(fù)性

2024/9/23 20:40:21375
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor Puma 9000 晶圓檢測(cè)儀是一款優(yōu)良的晶圓檢測(cè)和計(jì)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造業(yè),。該系統(tǒng)利用KLA-Tencor創(chuàng)新的Streak&t...
型號(hào)： Puma 9000 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商所在地：深圳市對(duì)比

晶圓檢測(cè)和計(jì)量Streak™暗視野成像技術(shù)高分辨率成像光學(xué)掃描高速成像技術(shù)

2024/9/23 20:38:50619
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測(cè)儀是一款優(yōu)良的晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,，主要用于半導(dǎo)體行業(yè)的高精度檢測(cè)。該系統(tǒng)采用超紫外（UV）模式匹配技術(shù)和最新一代的...
型號(hào)： AIT XUV 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商所在地：深圳市對(duì)比

晶圓測(cè)試和計(jì)量超紫外（UV）模式1/10000毫米大小激光掃描雙暗場(chǎng)光學(xué)檢查

2024/9/23 20:37:04408
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor AIT XP 晶圓檢測(cè)儀是一款功能強(qiáng)大且高效的晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,，通過(guò)其先進(jìn)的檢測(cè)技術(shù),、自動(dòng)化功能和模塊化設(shè)計(jì)，能夠顯著提升半導(dǎo)體制造過(guò)程...
型號(hào)： AIT XP 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商所在地：深圳市對(duì)比

圖案化晶圓晶圓測(cè)試和計(jì)量暗場(chǎng)顯微鏡技術(shù)缺陷檢測(cè)掩模

2024/9/23 20:34:54406
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor AIT II 晶圓檢測(cè)儀是一種先進(jìn)的晶圓測(cè)試和計(jì)量系統(tǒng),，專(zhuān)為半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計(jì),。該系統(tǒng)具有多種功能和特點(diǎn)，使其在晶圓缺陷檢測(cè)和過(guò)程控制方面表現(xiàn)...
型號(hào)： AIT II 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商所在地：深圳市對(duì)比

晶圓測(cè)試和計(jì)量200mm,、300mm甚至450mm雙暗場(chǎng)檢查工具SECS/GEM通信接口缺陷檢查

2024/9/23 20:32:34439
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor AIT I 晶圓檢測(cè)儀是一種用于檢測(cè)圖案化晶圓表面缺陷的系統(tǒng),。該系統(tǒng)配置為處理6英寸（150毫米）和8英寸（200毫米）的晶圓，并具備自動(dòng)...
型號(hào)： AIT I 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商所在地：深圳市對(duì)比

圖案化晶圓表面缺陷6英寸（150毫米）8英寸（200毫米）自動(dòng)對(duì)焦雙暗場(chǎng)檢查

2024/9/23 20:30:30367
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor 2351 晶圓檢測(cè)儀是一種先進(jìn)的晶圓和掩模檢測(cè)系統(tǒng),，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造行業(yè),。該系統(tǒng)具備多種功能，包括高分辨率成像,、自動(dòng)化分析以及專(zhuān)門(mén)的缺...
型號(hào)： 2351 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商所在地：深圳市對(duì)比

晶圓檢測(cè)儀KLA-Tencor掩模檢測(cè)系統(tǒng)缺陷檢測(cè)200mm晶圓尺寸

2024/9/23 20:28:10458
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor 2135 晶圓檢測(cè)儀是一種高duan的掩模和晶圓檢測(cè)系統(tǒng),，具有多種先進(jìn)技術(shù)和高靈敏度成像功能。以下是其詳細(xì)規(guī)格參數(shù)：用途：主要用于圖案化晶...
型號(hào)： 2135 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商所在地：深圳市對(duì)比

晶圓檢測(cè)儀KLA-Tencor晶圓檢測(cè)系統(tǒng)缺陷檢測(cè)晶片表面映射

2024/9/23 20:25:59381
顆粒檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測(cè)儀是一款先進(jìn)的掩模和晶圓檢測(cè)設(shè)備,，廣泛應(yīng)用于集成電路(IC)制造過(guò)程中的缺陷檢測(cè)與分類(lèi),。該系統(tǒng)采用先進(jìn)的...
型號(hào)： SP2 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商所在地：深圳市對(duì)比

顆粒檢測(cè)儀晶圓檢測(cè)KLA-Tencor缺陷檢測(cè)晶圓檢測(cè)儀

2024/9/23 20:23:34603
顆粒檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測(cè)儀是一種用于晶圓檢測(cè)和計(jì)量的系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,。該設(shè)備由KLA-Tencor公司生產(chǎn),，具有多種功能和特...
型號(hào)： SFS6420 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商所在地：深圳市對(duì)比

顆粒檢測(cè)儀KLA-Tencor晶圓檢測(cè)表面分析計(jì)量

2024/9/23 20:21:29394

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