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目錄:深圳市達(dá)瑞博電子有限公司>>光學(xué)儀器及設(shè)備>>顆粒檢測儀>> SP2顆粒檢測儀

顆粒檢測儀
  • 顆粒檢測儀
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 KLA-Tencor
  • 型號 SP2
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 深圳市
屬性

產(chǎn)地類別:進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域:電子/電池,綜合

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更新時(shí)間:2024-09-23 20:23:34瀏覽次數(shù):744評價(jià)

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KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測儀是一款先進(jìn)的掩模和晶圓檢測設(shè)備,,廣泛應(yīng)用于集成電路(IC)制造過程中的缺陷檢測與分類。
該系統(tǒng)采用先進(jìn)的光學(xué),、電學(xué)和機(jī)械組件,,能夠檢測并糾正各種類型的掩模和晶圓上的缺陷。
Surfscan SP2使用專li技術(shù)和高精度成像技術(shù),,能夠在微觀水平上捕捉細(xì)節(jié),,并與參考模型進(jìn)行比較,從而實(shí)現(xiàn)對掩模和晶片表面制造缺陷的可靠檢測和識(shí)別

KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測儀


KLA-Tencor Surfscan SP2是一款先進(jìn)的掩模和晶圓檢測設(shè)備,,廣泛應(yīng)用于集成電路(IC)制造過程中的缺陷檢測與分類,。該系統(tǒng)采用先進(jìn)的光學(xué)、電學(xué)和機(jī)械組件,,能夠檢測并糾正各種類型的掩模和晶圓上的缺陷,。

Surfscan SP2使用專li技術(shù)和高精度成像技術(shù),,能夠在微觀水平上捕捉細(xì)節(jié),并與參考模型進(jìn)行比較,,從而實(shí)現(xiàn)對掩模和晶片表面制造缺陷的可靠檢測和識(shí)別,。其主要功能包括:

1. **高分辨率成像**:Surfscan SP2可以提供優(yōu)于掃描電子顯微鏡(SEM)模式的分辨率和精度,使其在缺陷檢測方面具有顯著優(yōu)勢,。

2. **自動(dòng)化解決方案**:該系統(tǒng)設(shè)計(jì)為自動(dòng)化操作,,能夠提高生產(chǎn)效率,每小時(shí)檢查更多的晶圓或在不損失吞吐量的情況下使用更高的靈敏度設(shè)置,。

3. **多種檢測模式**:支持斜入射和平行入射分析,,能夠計(jì)算出匹配SP2空間帶寬的“頻率匹配"粗糙度。

4. **兼容性與維護(hù)**:Surfscan SP2的部件如Z軸電機(jī)等都是高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)的,,確保了系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性,。

此外,KLA-Tencor公司還推出了升級版的Surfscan SP2XP,,進(jìn)一步提升了系統(tǒng)的性能和吞吐量,,使工廠能夠更高效地進(jìn)行晶圓檢測。

總之,,KLA-Tencor Surfscan SP2是一種高性能的晶圓檢測設(shè)備,,通過先進(jìn)的成像技術(shù)和自動(dòng)化操作,為集成電路制造過程提供了可靠的缺陷檢測和分類手段,。

KLA-Tencor SP2 概述

高性能掩模和晶圓檢測設(shè)備

使用先進(jìn)的成像技術(shù)

專為集成電路市場設(shè)計(jì)

主要功能

檢測和修正掩模和晶圓上的缺陷

支持多種晶圓類型

提供無與倫bi的可見性

技術(shù)特點(diǎn)

高分辨率和準(zhǔn)確性

低表面霧化檢測能力,,最di0.3 ppm

超過前代Surfscan SP2的高吞吐量

設(shè)備規(guī)格

處理從2英寸到8英寸/200mm晶圓

檢測微觀水平細(xì)節(jié),與參考模型比較

配件與服務(wù)

提供多種光學(xué)組件,、備件和服務(wù)

包括Z軸電機(jī)等關(guān)鍵部件

市場應(yīng)用

集成電路(IC)市場采用的控片檢測系統(tǒng)

用于生產(chǎn)過程監(jiān)控




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