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目錄:深圳市達(dá)瑞博電子有限公司>>光學(xué)儀器及設(shè)備>>晶圓檢測儀>> 2351晶圓檢測儀

晶圓檢測儀
  • 晶圓檢測儀
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 KLA-Tencor
  • 型號 2351
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 深圳市
屬性

產(chǎn)地類別:進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域:電子,綜合

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更新時(shí)間:2024-09-23 20:28:10瀏覽次數(shù):480評價(jià)

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 電子,綜合
KLA-Tencor 2351 晶圓檢測儀是一種先進(jìn)的晶圓和掩模檢測系統(tǒng),廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造行業(yè),。該系統(tǒng)具備多種功能,,包括高分辨率成像、自動(dòng)化分析以及專門的缺陷檢測和過程改進(jìn)設(shè)備,。它利用激光掃描技術(shù)來檢測和分類半導(dǎo)體晶片上的缺陷,,以提高產(chǎn)率,并提供全場自上而下的掃描、600倍或1000倍放大資產(chǎn)等高性能缺陷審查模型,。

KLA-Tencor 2351 晶圓檢測儀

是一種先進(jìn)的晶圓和掩模檢測系統(tǒng),,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造行業(yè)。該系統(tǒng)具備多種功能,,包括高分辨率成像,、自動(dòng)化分析以及專門的缺陷檢測和過程改進(jìn)設(shè)備。它利用激光掃描技術(shù)來檢測和分類半導(dǎo)體晶片上的缺陷,,以提高產(chǎn)率,,并提供全場自上而下的掃描、600倍或1000倍放大資產(chǎn)等高性能缺陷審查模型,。

KLA-Tencor 2351 的主要特點(diǎn)包括:

  1. 高分辨率成像:該系統(tǒng)能夠進(jìn)行高精度的圖像采集,,確保快速準(zhǔn)確地識別出微小的缺陷,。

  2. 自動(dòng)化分析:通過專有的操作系統(tǒng)和高分辨率檢查攝像頭,,可以快速準(zhǔn)確地分類缺陷

  3. 快速掃描速度:支持快速掃描,,適用于大規(guī)模生產(chǎn)環(huán)境,。

  4. 詳細(xì)的分析報(bào)告:內(nèi)置報(bào)告功能使用戶能夠生成缺陷信息和實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的圖形報(bào)告

  5. 易用性:具有直觀的圖形用戶界面(GUI),,允許用戶快速設(shè)置、配置和監(jiān)視設(shè)備的操作,。

此外,,KLA-Tencor 2351 還具備以下優(yōu)勢:

  • 提供全面的缺陷檢測能力,能夠檢測到尺寸小于一微米的缺陷,。

  • 支持200mm晶圓尺寸,,并在2001年對前一代產(chǎn)品2350進(jìn)行了升級,增強(qiáng)了靈敏度,、吞吐量和易用性,。

  • 配備了DIC成像技術(shù)和可編程圖案識別算法,進(jìn)一步提升了檢測精度和效率,。

KLA-Tencor 2351 是一款功能強(qiáng)大且高效的晶圓和掩模檢測系統(tǒng),,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,幫助提高產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率,。

系統(tǒng)概述

用于半導(dǎo)體行業(yè)

高性能,、經(jīng)濟(jì)高效的工具

提供詳細(xì)圖像和測量

主要功能

檢測、分類和量化缺陷

快速準(zhǔn)確地獲取和分析數(shù)據(jù)

支持DIC成像,、可編程圖案識別算法

技術(shù)特點(diǎn)

高分辨率成像技術(shù)

一微米級別的缺陷檢測能力

自動(dòng)化晶圓和掩模檢查系統(tǒng)

應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體制造過程控制

晶圓檢測與質(zhì)量保證

設(shè)備規(guī)格與升級

支持200mm晶圓大小

2003年升級至2350版本,,增強(qiáng)靈敏度、吞吐量和易用性


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