目錄:深圳市達(dá)瑞博電子有限公司>>光學(xué)儀器及設(shè)備>>電子顯微鏡>> CX 200掃描電子顯微鏡
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更新時(shí)間：2024-09-23 20:13:20瀏覽次數(shù)：623評(píng)價(jià)
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,綜合 |
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型號(hào): SEMVision CX 200
制造商: Applied Materials
應(yīng)用領(lǐng)域: 半導(dǎo)體制造環(huán)境
光學(xué)系統(tǒng): 0.2 NA 光學(xué)系統(tǒng)
高分辨率彩色相機(jī)
電動(dòng)龍門(mén)
CO2激光準(zhǔn)直光學(xué)設(shè)計(jì)
低噪聲冷卻CCD相機(jī)
可調(diào)LED光源
多測(cè)量模式
改進(jìn)的性能和產(chǎn)量監(jiān)控
支持優(yōu)良集成電路設(shè)計(jì)的制造
檢測(cè)微觀尺度的缺陷和非均勻區(qū)域
自動(dòng)化掩模書(shū)寫(xiě)功能
自動(dòng)化檢查技術(shù)
單晶圓檢測(cè)速度: ≤90 s (在流水線(xiàn)模式下)
單晶圓缺陷吞吐量: ≤500 DPH (可選600 DPH)
單晶圓吞吐量: ≥8 晶圓/小時(shí) (50個(gè)缺陷/晶圓)
清潔等級(jí): Class 1 可接受外界條件影響的結(jié)霜對(duì)機(jī)組性能的影響
API參數(shù): +/-1.5um API (Automatic Process Control)
Applied Materials CX 200掃描電子顯微鏡是一款高性能,、高精度的掩模和晶圓檢測(cè)設(shè)備,，憑借其優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),、強(qiáng)大的圖像處理能力和高效的自動(dòng)化功能,，能夠滿(mǎn)足現(xiàn)代半導(dǎo)體生產(chǎn)中對(duì)缺陷檢測(cè)的嚴(yán)格要求,。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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