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KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀采用自動化R-Theta平臺，支持標準和定制化樣品夾盤,，最大樣品直徑達450毫米，能高效測繪薄膜厚度,。該設備適...

KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀通過將顯微鏡轉(zhuǎn)變?yōu)楸∧y量工具,，實現(xiàn)小至1微米光斑的厚度和折射率測量,。該設備配備集成彩色攝像機,，可在1秒內(nèi)完成...

KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀通過實時監(jiān)控沉積過程,，提供高精度、快速且非侵入式的測量解決方案,，適用于多種半導體和電介質(zhì)材料,。其主要特點包括提...

KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀系列，涵蓋近紅外光波長范圍980 nm,、1310 nm及1550 nm,，能夠測量從15納米至3毫米的薄膜厚...

KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)專為微小視野及樣品設計，支持快速,、簡易的厚度測量,，適用于聚對二甲苯和真空鍍膜層等。其具備自動校正功能,，可...

KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀通過同時測量反射和透射光譜,，實現(xiàn)真空鍍膜的快速,、精確分析,。該設備價格合理，具備分析,、FWHM確定及顏色分...

KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀是一款專為測量單層和多層硬涂層設計的儀器,，基于F20平臺，采用光譜反射分析技術(shù),，提供快速準確的測量結(jié)果,。...

KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng);經(jīng)濟實惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內(nèi)就能完成高精度的薄膜厚度測量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和...

KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖,，利用具有長壽命,、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價格在幾秒...

KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖,，利用具有長壽命,、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價格在幾秒鐘...

KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀可對金屬層厚度,、薄膜電阻,、薄膜電阻率、薄膜電導和薄膜電導率進行測繪,。R54是方塊電阻測量的最新一代升級款...

KLA NanoFlip納米壓痕儀可在真空和氣氛條件下,，準確,、精密地進行硬度、模量,、屈服強度,、剛度和其它納米力學性能的測試。無論在掃描電子顯微鏡(SEM)或是聚...

KLA iNano®納米壓痕儀使測量薄膜,、涂層和小體積材料變得更簡單,。準確、靈活,、用戶友好的儀器可以進行多樣的納米材料力學測試,，包括壓痕、硬度,、劃痕和...

KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級力學測試工具,，可快速提供精確的定量分析結(jié)果。G200X系統(tǒng)可處理從硬質(zhì)...

KLA iMicro納米壓痕儀可輕松測量硬質(zhì)涂層,、薄膜和小尺寸材料等,。其準確、靈活,，并且用戶友好,，可以提供壓痕、硬度測試,、劃痕和納米級萬能試驗等多種納米力學測試...

KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)為硬盤驅(qū)動器基板和介質(zhì)提供了高級缺陷檢測和分類功能,。7100系列硬盤驅(qū)動器缺陷檢測和分類系統(tǒng)以...

KLA Candela® 6300系列光學表面分析儀系統(tǒng)為金屬或玻璃數(shù)據(jù)存儲基板和成品介質(zhì)提供了先進的量測和檢測功能。隨著數(shù)據(jù)存儲制造商努力通過進一步...

KLA Candela® 8720表面缺陷檢測系統(tǒng)先進的集成式表面和光致發(fā)光(PL)缺陷檢測系統(tǒng)可以捕獲各種關鍵襯底和外延缺陷,。采用統(tǒng)計制程控制(SP...

KLA Candela® 8520表面缺陷檢測系統(tǒng)第二代集成式光致發(fā)光和表面檢測系統(tǒng),，設計用于對碳化硅和氮化鎵襯底上的外延缺陷進行高級表征。采用統(tǒng)計制...

KLA Candela® 8420表面缺陷檢測系統(tǒng)它使用多通道檢測和基于規(guī)則的缺陷分類,，對不透明,、半透明和透明晶圓(如砷化鎵、磷化銦,、鉭酸鋰,、鈮酸鋰、...