KLA Candela® 8720表面缺陷檢測系統(tǒng)采用專有的光學(xué)技術(shù),，可同時測量兩個入射角的散射強(qiáng)度,。它可以捕捉到形貌變化、表面反射率,、相位變化和光致發(fā)光,，從而對各種關(guān)鍵缺陷進(jìn)行自動檢測與分類。應(yīng)用包括射頻,、功率和高亮度LED的氮化鎵檢測,，能夠檢測裂紋、晶體位錯,、小丘,、微坑,、滑移線、凸點和六角凸點以及外延缺陷,。KLA Candela® 8720表面缺陷檢測系統(tǒng)還可用于其他化合物半導(dǎo)體工藝材料的缺陷檢測,，例如用于LED、垂直腔面發(fā)射激光器和光子學(xué)應(yīng)用的砷化鎵和磷化銦,。

功能

• 對直徑達(dá)200毫米的化合物半導(dǎo)體材料進(jìn)行缺陷檢測,。

• 支持各種晶圓厚度

• 適用于宏觀和微觀缺陷，如裂紋,、多量子阱擾動,、微粒、劃痕,、凹坑,、凸起和沾污缺陷

應(yīng)用案例

• 襯底質(zhì)量控制

• 襯底供應(yīng)商對比

• 入廠晶圓質(zhì)量控制(IQC)

• 出廠晶圓質(zhì)量控制(OQC)

• CMP（化學(xué)機(jī)械拋光工藝）/拋光工藝控制

• 晶圓清洗工藝控制

• 外延工藝控制

• 襯底與外延缺陷關(guān)聯(lián)

• 外延反應(yīng)器供應(yīng)商的對比

• 工藝機(jī)臺監(jiān)控

行業(yè)

• 高亮度LED、微型LED包括AR|VR

• 氮化鎵的射頻和氮化鎵的功率應(yīng)用

• 通信（5G,、激光雷達(dá),、傳感器）

• 其他化合物半導(dǎo)體器件

選項

• SECS-GEM

• 信號燈塔

• 金剛石劃線

• 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

• 離線軟件

• 光學(xué)字符識別(OCR)

• 光致發(fā)光