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德國韋氏納米系統(tǒng)（香港）有限公司

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KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀返回列表頁

舉報評價

參考價:￥50000 - ￥999999 /臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

型號
品牌
KLA-Tencor
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)商
所在地
香港特別行政區(qū)

在線詢價加入對比查看聯(lián)系電話

更新時間：2025-03-10 07:28:14瀏覽次數(shù)：208次

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產(chǎn)品分類品牌分類

KLA/科磊: 方塊電阻測量儀薄膜厚度測量儀表面缺陷檢測系統(tǒng) 納米壓痕儀光學輪廓儀探針式輪廓儀

全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別	進口	價格區(qū)間	50萬-100萬
應用領域	電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合

KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀通過同時測量反射和透射光譜,，實現(xiàn)真空鍍膜的快速,、精確分析。該設備價格合理,，具備分析,、FWHM確定及顏色分析功能，并可通過選配模塊擴展其厚度和折射率測量能力,。配備FILMeasure 8軟件和多種參考材料,，支持多種薄膜類型，覆蓋從紫外到近紅外的寬波長范圍,，提供高效的測量結果輸出及全面的技術支持服務,。

詳情介紹

同時測量反射和透射

以真空鍍膜為設計目標，KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜,。只需傳統(tǒng)價格的一小部分,，用戶就能進行分析、確定 FWHM 并進行顏色分析,。

可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀的分析能力,。測量結果能被快速地導出和打印。

包含的內(nèi)容：

集成光譜儀/光源裝置
FILMeasure 8 軟件
BK7 參考材料
Si 參考材料
防反光板
鏡頭紙

型號規(guī)格

型號	厚度范圍	波長范圍
F10-RT	15nm-70μm	380-1050nm
F10-RT-UV	1nm-40μm	190-1100nm
F10-RT-UVX	1nm-150μm	190-1700nm
F10-RT-NIR	100nm-150μm	950-1700nm
F10-RT-EXR	15nm-150μm	380-1700nm