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磁控濺射鍍膜系統(tǒng)，是針對(duì)特定市場(chǎng)和客戶群體開發(fā)的新產(chǎn)品,，與目前市場(chǎng)上普遍采用的鍍膜設(shè)備相比具備以下突出優(yōu)勢(shì)：?jiǎn)误w同步精密監(jiān)控,，實(shí)時(shí)膜厚分布控制,。因此適合做各類高...

無(wú)掩模光刻機(jī) 美國(guó)AMP（Advanced Micro Patterning, LLC）公司憑借多年的光刻設(shè)備生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)和多項(xiàng)無(wú)掩模曝光技術(shù)，已成為無(wú)掩模紫外光刻...

勻膠顯影機(jī) 適應(yīng)于半導(dǎo)體,、化工材料,、硅片、晶片,、基片,、導(dǎo)電玻璃等工藝,，制版的表面顯影。一般顯影機(jī)由動(dòng)力系統(tǒng),、顯影液槽及噴液管,、水洗槽、擠壓 （水）輥,、涂膠槽等部...

手動(dòng)/半自動(dòng)曝光機(jī) 光刻機(jī)又名：掩模對(duì)準(zhǔn)曝光機(jī),，曝光系統(tǒng)，光刻系統(tǒng),，光刻機(jī),，紫外曝光機(jī)等；

等離子刻蝕機(jī) 提供一系列的解決方案來(lái)滿足客戶的生產(chǎn)和開發(fā)要求,。通過一系列的技術(shù)的開發(fā),，SPTS能為客戶提供一系列的*的工藝，比如功率MOSFET和200mm和3...

IPG激光劃片機(jī) 能適應(yīng)單晶硅,、多晶硅,、非晶硅電池劃片和硅、鍺,、砷化鎵半導(dǎo)體材料的劃片和切割,。比如厚片（如AP公司0.7mm單晶硅多晶硅；1.2mm非晶硅帶等）...

CMP研磨拋光系統(tǒng) ,，該機(jī)型是PM5型的升級(jí)版,。能夠完成4英寸及以下尺寸樣品的小批量處理，整個(gè)過程全封閉控制,，并內(nèi)置自清洗功能,，提升對(duì)操作人員的安全保護(hù)；全部采...

ALD原子層沉積系統(tǒng) 存儲(chǔ)電容器絕緣層-銅連線間的高縱橫比擴(kuò)散勢(shì)壘區(qū)有機(jī)發(fā)光二極管和聚合物的無(wú)針孔鈍化層鈍化晶體硅太陽(yáng)能電池

ADT機(jī)械劃片機(jī) 具有四種不同的機(jī)型可以選擇,，每個(gè)機(jī)型分別對(duì)具體的應(yīng)用范圍進(jìn)行了優(yōu)化,，7100系列涵蓋了廣闊的應(yīng)用范圍，可以提供低廉的成本合理并同時(shí)提供*的切割...

芯片推拉力剪切力測(cè)試儀 是一種多功能焊接強(qiáng)度測(cè)試儀,，可執(zhí)行芯片推拉力和剪切力測(cè)試應(yīng)用,。

原子力顯微鏡 使用調(diào)頻模式，提高了信號(hào)的靈敏度,，是一款可以在大氣環(huán)境下獲得與真空環(huán)境中同樣高分辨率表面觀察圖像的產(chǎn)品,，無(wú)論樣品種類（薄膜、晶體,、半導(dǎo)體,、有機(jī)材料...

芯片推拉力剪切力測(cè)試儀 是一種多功能焊接強(qiáng)度測(cè)試儀，可執(zhí)行芯片推拉力和剪切力測(cè)試應(yīng)用,。

芯片拉力剪切力測(cè)試儀 擁有多項(xiàng)功能,，應(yīng)用操作中可執(zhí)行芯片器件推拉力和剪切力的測(cè)試操作,。DAGE焊接強(qiáng)度測(cè)試儀和DAGE X-ray產(chǎn)品系列，可以用于破壞性和非破...

雙面量測(cè)探針臺(tái)（上下點(diǎn)針方式） 龍門式移動(dòng)平臺(tái),，與顯微鏡精微調(diào)裝置配合,，設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，可操控范圍廣,，放置樣品以及點(diǎn)針操作方便

掃描電鏡SEM 公司新推出的一款機(jī)型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲電鏡,，擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設(shè)計(jì)，配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散射探頭,，具有越...

美國(guó)MTI 晶圓幾何參數(shù)測(cè)試儀 晶圓幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品覆蓋手動(dòng)型,、半自動(dòng)型和全自動(dòng)型。

晶圓薄膜應(yīng)力測(cè)試儀 樣品臺(tái)可通用于3至8寸晶圓,，128L型號(hào)適用于12寸晶圓,，128G 型號(hào)適用于470 X 370mm樣品，另可按要求訂做,；

氦質(zhì)譜檢漏儀 是我公司針對(duì)端客戶群開發(fā)的一款便攜式檢漏儀,，檢測(cè)精度高、操作便捷,、性能穩(wěn)定,，具有較高的靈敏度和快速的反應(yīng)時(shí)間。該設(shè)備設(shè)計(jì)緊湊,，占用空間小,，方便攜帶...

非接觸影像測(cè)量?jī)x 影像測(cè)量?jī)x是我們常見的檢測(cè)儀器。億輝光電所制造的影像測(cè)量?jī)x采用了非接觸的沒量方式,，已成為了精密制造工業(yè)在質(zhì)量檢測(cè)環(huán)節(jié)上為重要的精密測(cè)量?jī)x器之一...

X光檢測(cè)系統(tǒng) 是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊,，在撞擊過程中，因電子突然減速,，其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出,。