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當(dāng)前位置:武漢賽斯特精密儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體測試儀器解決方案>>半導(dǎo)體檢測儀器設(shè)備
納米壓痕測試儀(Nanoindentor) 主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量,,可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變,、彈性功,、塑性功,、斷裂韌性、應(yīng)...
晶圓檢測機(jī)采用非接觸檢測系統(tǒng),,對晶圓的平面度,、厚度、粗糙度等進(jìn)行檢測并分類,,并完成晶圓標(biāo)記及數(shù)據(jù)處理,。該設(shè)備產(chǎn)能:1片/分鐘。該設(shè)備主要包含:運(yùn)動機(jī)構(gòu):將晶圓放...
新型Sneox關(guān)光輪廓檢測儀在性能,,功能,、效率和設(shè)計(jì)方面優(yōu)于現(xiàn)有的3D光學(xué)輪廓儀,是新一代測量系統(tǒng)
ITC57300 MOS管半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試儀-3D光學(xué)測量系統(tǒng)VMR可模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境,規(guī)劃智能教導(dǎo)掃描路徑,,避免碰撞擊干涉,。也可進(jìn)行離線編成設(shè)計(jì)路徑,避免占用設(shè)...
ITC57300分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)-3D光學(xué)測量系統(tǒng)VMR可模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境,,規(guī)劃智能教導(dǎo)掃描路徑,,避免碰撞擊干涉。也可進(jìn)行離線編成設(shè)計(jì)路徑,,避免占用設(shè)備的掃...
半導(dǎo)體分立器件動態(tài)參數(shù)測試儀-3D光學(xué)測量系統(tǒng)VMR可模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境,,規(guī)劃智能教導(dǎo)掃描路徑,避免碰撞擊干涉,。也可進(jìn)行離線編成設(shè)計(jì)路徑,,避免占用設(shè)備的掃描排程。
半導(dǎo)體功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀-3D光學(xué)測量系統(tǒng)VMR可模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境,,規(guī)劃智能教導(dǎo)掃描路徑,,避免碰撞擊干涉。也可進(jìn)行離線編成設(shè)計(jì)路徑,,避免占用設(shè)備的掃描排程,。
芯片推拉力剪切力測試儀 是一種多功能焊接強(qiáng)度測試儀,可執(zhí)行芯片推拉力和剪切力測試應(yīng)用,。
原子力顯微鏡 使用調(diào)頻模式,,提高了信號的靈敏度,是一款可以在大氣環(huán)境下獲得與真空環(huán)境中同樣高分辨率表面觀察圖像的產(chǎn)品,,無論樣品種類(薄膜,、晶體、半導(dǎo)體,、有機(jī)材料...
芯片推拉力剪切力測試儀 是一種多功能焊接強(qiáng)度測試儀,,可執(zhí)行芯片推拉力和剪切力測試應(yīng)用。
芯片拉力剪切力測試儀 擁有多項(xiàng)功能,,應(yīng)用操作中可執(zhí)行芯片器件推拉力和剪切力的測試操作,。DAGE焊接強(qiáng)度測試儀和DAGE X-ray產(chǎn)品系列,可以用于破壞性和非破...
雙面量測探針臺(上下點(diǎn)針方式) 龍門式移動平臺,,與顯微鏡精微調(diào)裝置配合,,設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,可操控范圍廣,,放置樣品以及點(diǎn)針操作方便
掃描電鏡SEM 公司新推出的一款機(jī)型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲電鏡,,擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設(shè)計(jì),配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散射探頭,,具有越...
美國MTI 晶圓幾何參數(shù)測試儀 晶圓幾何參數(shù)測量儀產(chǎn)品覆蓋手動型,、半自動型和全自動型,。
晶圓薄膜應(yīng)力測試儀 樣品臺可通用于3至8寸晶圓,128L型號適用于12寸晶圓,,128G 型號適用于470 X 370mm樣品,,另可按要求訂做;
氦質(zhì)譜檢漏儀 是我公司針對端客戶群開發(fā)的一款便攜式檢漏儀,,檢測精度高,、操作便捷、性能穩(wěn)定,,具有較高的靈敏度和快速的反應(yīng)時(shí)間,。該設(shè)備設(shè)計(jì)緊湊,占用空間小,,方便攜帶...
非接觸影像測量儀 影像測量儀是我們常見的檢測儀器,。億輝光電所制造的影像測量儀采用了非接觸的沒量方式,已成為了精密制造工業(yè)在質(zhì)量檢測環(huán)節(jié)上為重要的精密測量儀器之一...
X光檢測系統(tǒng) 是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊,,在撞擊過程中,,因電子突然減速,其損失的動能會以X-Ray形式放出,。
PIND顆粒噪聲測試儀 工作原理:顆粒碰撞噪聲檢測(Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.)是一種對多余物檢驗(yàn)的有效手...
3D光學(xué)測量系統(tǒng) VMR可模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境,,規(guī)劃智能教導(dǎo)掃描路徑,避免碰撞擊干涉· 也可進(jìn)行離線編成設(shè)計(jì)路徑,,避免占用設(shè)備的掃描排程· 其任何檢...
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