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武漢賽斯特精密儀器有限公司
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納米壓痕測試儀(Nanoindentor)

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產(chǎn)品型號

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地武漢市

更新時間:2024-10-11 11:18:34瀏覽次數(shù):981次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 化工
納米壓痕測試儀(Nanoindentor) 主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量,,可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度,、蠕變,、彈性功、塑性功,、斷裂韌性,、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞,、存儲模量及損耗模量等特性,。

納米壓痕測試儀(Nanoindentor)儀器簡介:

公司在原有NHT納米壓痕測試儀的基礎(chǔ)上,推出了NHT2 (NHT第二代)納米壓痕測試儀 (0.1-500mN) ,。

NHT2納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量,,可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變,、彈性功,、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線,、疲勞,、存儲模量及損耗模量等特性??蛇m用于有機或無機,、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測分析,包括PVD,、CVD,、PECVD薄膜,感光薄膜,,彩繪釉漆,,光學(xué)薄膜,微電子鍍膜,,保護性薄膜,,裝飾性薄膜等等?;w可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料,,包括金屬、合金,、半導(dǎo)體,、玻璃、礦物和有機材料等,。

top reference(表面參比測試技術(shù))設(shè)計,,NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應(yīng)(thermal drift)降低到了0.02nm/s的水平。

NHT2納米壓痕測試儀同時具備了納米測試系統(tǒng)所具有的豐富的測量模式,,如恒應(yīng)變速率加載,、視頻定位壓入、沖擊模式等,。通過納米力學(xué)平臺的設(shè)計,,客戶可以選擇其它豐富的選件構(gòu)建全套的納米力學(xué)綜合測試系統(tǒng)。如AFM原子力顯微鏡同步成像,、微米壓痕模塊,、微米或納米劃痕模塊、微納米摩擦磨損模塊,、變溫,、濕度控制、真空環(huán)境等等,。

納米壓痕測試儀(Nanoindentor)技術(shù)參數(shù):

載荷范圍:0-500mN

載荷分辨率:40nN

大壓入深度:200um

位移分辨率:0.004nm

NHT2納米壓痕測試儀的主要特點:

參比環(huán)設(shè)計-實時消除大部分熱漂移

帶有反饋系統(tǒng)的載荷加載系統(tǒng)

試樣夾具可夾持各種尺寸試樣(無需用膠粘結(jié)試樣)

金相顯微鏡觀測系統(tǒng)

計算機軟件包,,自動進行數(shù)據(jù)獲取,、儲存、分析等

豐富,、靈活的擴展空間

選件:

其它力學(xué)測試模塊(如微納米劃痕,、超納米壓痕等)

真空及環(huán)境(溫度、濕度)控制

原子力顯微鏡成像系統(tǒng)

環(huán)境隔離罩

多功能納米壓痕儀選型:

4D緊湊型

多功能納米壓痕儀4D緊湊型是球結(jié)構(gòu)為緊湊小巧的納米硬度測試儀,,它采用納米壓痕法測量材料硬度和彈性模量(楊氏模量),,負載高達2N,廣泛用于材料力學(xué)性能測量研究,。也非常適合大學(xué)或研究單位的納米壓痕儀測量硬度的教學(xué)或演示教學(xué),。

4D標準型

多功能納米壓痕儀4D標準型具有測量材料硬度,彈性模量和其它力學(xué)性能的功能,。它采用靜態(tài)和動態(tài)納米壓痕技術(shù)以及sclerometry方法測量材料性能,。并且可以接觸式或半接觸式地測量材料表面形貌,采用光學(xué)顯微鏡高精度地對壓頭和樣品進行互動性定位,。

多功能納米壓痕儀4D標準型還可以接入另外的傳感器或測量模塊,,實現(xiàn)對材料表面進行其它測量。

4D+增強型

多功能納米壓痕儀4D+增強型配置是球功能多的多功能納米硬度測量儀器,。它具有納米壓痕儀和原子力顯微鏡的功能,,具備了所有的物理和力學(xué)性能測量能力,。它具有原子力顯微鏡測量模塊,,能夠以納米級分辨率研究壓痕后留下的表面痕跡和圖像,并能夠全自動測量,,可以批量處理分析測量結(jié)果,。

3D緊湊型

緊湊型3D納米壓痕儀用于研究微小樣品的表面形貌輪廓和力學(xué)特性,它采用掃描探針顯微鏡SPM技術(shù)和納米壓痕方法,,提供高達50mN的負載,,非常適合物理學(xué),材料學(xué)和力學(xué)專業(yè)用于亞微米和納米尺度的教學(xué)研究,。

3D標準型

用于負載物理和力學(xué)性質(zhì)的研究,,負載為100mN,裝備有光學(xué)顯微鏡和電動樣品臺用于樣品定位,,高效率自動化加載提高了測量效率,。

3Di型

裝配有掃描探針顯微鏡SPM和激光干涉儀。


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