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BX-G3466高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3414
BX-G3466高性能-太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3414
BX-G3459高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3414
BX-G3458高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3414
BX-G3457高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3414
BX-G3456高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3414
BX-G3455多功能隔熱膜測(cè)試儀PX 3414
BX-G3454多功能隔熱膜溫度測(cè)試儀PX 3414
BX-G3453高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3414
BX-G3450高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3414
BX-G3449高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3414
BX-G3448高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3414
UltraFilm薄膜測(cè)量系統(tǒng)PX 7060
FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 7060
FR-Ultra晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 7060
FR-ES精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量?jī)xPX 7060
FR-Ultra 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 7060
FPTOH-TOHOSPEC3100進(jìn)口光學(xué)薄膜測(cè)厚儀PX 3574
FPESS-Photon RT光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀PX 3574
FPTHE-FR-Thermal聚合物薄膜測(cè)厚儀,進(jìn)口膜厚儀PX 3574
FRANG-SR500進(jìn)口光學(xué)膜厚儀PX 3574
NH-3SPs高精度點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦3D測(cè)量機(jī)PX 0
NH-3Ns光點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦3D形狀高精度測(cè)量機(jī)PX 0
MLP-3自動(dòng)對(duì)焦3D形狀高精度測(cè)量機(jī)PX 0
PF-60點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦表面形狀高精度測(cè)量機(jī)PX 0
SENTECH SENDIRA薄膜計(jì)量紅外光譜橢圓儀PX 1950
SENTECH SENpro薄膜計(jì)量橢圓光譜儀PX 1950
SENresearch 4.0薄膜計(jì)量橢圓光譜儀PX 1950
SENTECH SE 500adv薄膜計(jì)量激光橢圓儀PX 1950
FTPadv Expert薄膜計(jì)量光譜反射儀軟件PX 1950
FTPadv薄膜計(jì)量膜厚探頭PX 1950
RM 1000/RM 2000薄膜計(jì)量光譜反射儀PX 1950
FRANG-SR500光學(xué)膜厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀PX 3574
FRANG-SR100光學(xué)薄膜測(cè)厚儀PX 3574
HM3-50納米級(jí)非接觸共焦測(cè)厚儀PX 0
HM-A300全自動(dòng)非接觸光學(xué)薄膜厚膜檢測(cè)設(shè)備PX 0
HM-260AL光學(xué)全自動(dòng)在線流延膜厚測(cè)試儀PX 0
SM230自動(dòng)光學(xué)薄膜厚度掃描測(cè)繪儀PX 3361
SM200系列光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)xPX 3361
FR-portable便攜式光學(xué)膜厚儀PX 3361
薄膜生長(zhǎng)設(shè)備
工藝測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備
集成電路測(cè)試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長(zhǎng)設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
膜厚測(cè)量?jī)x
晶圓幾何尺寸量測(cè)設(shè)備
光學(xué)膜厚儀
晶圓微觀幾何輪廓測(cè)量系統(tǒng)
晶圓翹曲度幾何量測(cè)系統(tǒng)
晶圓微觀三維形貌測(cè)量系統(tǒng)
晶圓微納幾何三維形貌測(cè)量系統(tǒng)
晶圓微納三維形貌量測(cè)系統(tǒng)
芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀
臺(tái)階輪廓儀
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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