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UIH-3DINTECS英特斯 半導(dǎo)體晶圓異物照明檢查燈PX 5886
KLA Candela® 8720表面缺陷檢測系統(tǒng)PX 3365
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀PX 3407
國產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)PX 6177
WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)PX 7376
半導(dǎo)體晶圓缺陷與少子壽命測試系統(tǒng)-SPM900PX 5334
SG-OEnlitech CIS/ALS/光傳感器晶圓測試儀PX 3047
愛安德晶圓缺陷185LE L專配鹵素?zé)舯?7V185W現(xiàn)貨PX 3237
UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)PX 7110
Hologenix微米晶圓缺陷檢測系統(tǒng)PX 2186
HEP-MC8000晶圓檢測機(jī)PX 2433
晶圓翹曲應(yīng)力測量儀PX 2045
ET200A型微型輪廓儀(光學(xué)檢測)PX 1950
AX7900晶圓缺陷X-RAY檢測設(shè)備PX 4606
2830 ZT馬爾文帕納科晶圓分析儀PX 3417
KIN-053D形貌測量設(shè)備PX 0
中電集創(chuàng)之合作鐳晨插件光學(xué)檢測設(shè)備PX 0
UIH-2DINTECS英特斯 晶圓玻璃劃痕光學(xué)檢查燈PX 5886
UIH-1CINTECS英特斯 半導(dǎo)體晶圓表面劃痕檢查燈PX 5886
185/17LFAS-VANS 晶圓鏡片玻璃照明燈泡 實(shí)惠PX 5886
350LSFI 精選S-VANS 晶圓缺陷鹵素照明燈 350LSFIPX 5886
370TFI/R 進(jìn)口S-VANS 晶圓缺陷光纖導(dǎo)鹵素聚光燈 370TFI/RPX 5886
185FI 現(xiàn)貨S-VANS 晶圓光纖鹵素照明燈 185FIPX 5886
SEL ONES-VANS 高亮度晶圓缺陷目視檢查燈 實(shí)惠PX 5886
185LE-ALS-VANS 晶圓玻璃缺陷表面檢查燈 精品PX 5886
17V185WS-VANS 晶圓鹵素光學(xué)照明燈泡 全新現(xiàn)貨PX 5886
185HLE-MK2S-VANS 高亮度鹵素射光學(xué)檢測燈 優(yōu)惠PX 5886
185HLE 實(shí)惠S-VANS 晶圓鹵素照明光源燈 185HLEPX 5886
SELONE N 精品S-VANS日本 晶圓缺陷光學(xué)照明燈 SELONE NPX 5886
KLA Candela® 8520表面缺陷檢測系統(tǒng)PX 3365
KLA Candela® 8420表面缺陷檢測系統(tǒng)PX 3365
晶圓缺陷光學(xué)檢測設(shè)備PX 6177
AWL系列半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測/國產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)PX 6177
KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)PX 3365
KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)PX 3365
INTECS英特斯晶圓檢測倉庫現(xiàn)貨檢查用照明裝置UIH-2DPX 3237
UltraINSP - 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)PX 7110
LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置PX 7110
LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置PX 7110
CI8化合物半導(dǎo)體SiC,、GaN晶圓檢查裝置PX 7110
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
INTECS英特斯 半導(dǎo)體晶圓異物照明檢查燈
INTECS英特斯 晶圓玻璃劃痕光學(xué)檢查燈
INTECS英特斯 半導(dǎo)體晶圓表面劃痕檢查燈
S-VANS 晶圓鏡片玻璃照明燈泡 實(shí)惠
S-VANS 晶圓缺陷鹵素照明燈 350LSFI
S-VANS 晶圓缺陷光纖導(dǎo)鹵素聚光燈 370TFI/R
S-VANS 晶圓光纖鹵素照明燈 185FI
S-VANS 高亮度晶圓缺陷目視檢查燈 實(shí)惠
國產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)
晶圓缺陷185LE L專配鹵素?zé)舯?7V185W現(xiàn)貨
晶圓缺陷X-RAY檢測設(shè)備
上海衡平儀器儀表有限公司
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