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UltraINSP - 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)PX 7110
LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置PX 7110
LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置PX 7110
CI8化合物半導(dǎo)體SiC,、GaN晶圓檢查裝置PX 7110
LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷檢查裝置PX 7110
LODAS™ – AI50/100Photomask Blanks缺陷檢查裝置PX 7110
Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)PX 7110
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YAMADA愛安德目視晶圓缺陷YP-250ID現(xiàn)貨控制器HPS-250PX 3237
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YAMADA愛安德光學(xué)晶圓缺陷玻璃表面瑕疵現(xiàn)貨YP-150I光源PX 3237
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YAMADA愛安德目視晶圓缺陷400000lux現(xiàn)貨YP-250I照明裝置PX 3237
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YAMADA愛安德晶圓缺陷目視用現(xiàn)貨高亮度YP-150ID鹵素射燈PX 3237
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YAMADA愛安德光學(xué)檢測YP-250I目視用霧度檢查裝置 現(xiàn)貨PX 3237
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INTECS英特斯晶圓檢測目視用UIH-1C霧度檢查照明裝置現(xiàn)貨PX 3237
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INTECS英特斯晶圓 光學(xué)檢測目視檢查燈UIH-2D照明燈現(xiàn)貨PX 3237
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工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
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晶圓光學(xué)檢測鑷MEISTER-00C
INTECS英特斯 半導(dǎo)體晶圓異物照明檢查燈
INTECS英特斯 晶圓玻璃劃痕光學(xué)檢查燈
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晶圓缺陷185LE L專配鹵素?zé)舯?7V185W現(xiàn)貨
晶圓缺陷X-RAY檢測設(shè)備
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賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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