晶圓缺陷光學(xué)檢測設(shè)備
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 寧波舜宇儀器有限公司
- 品牌 SOPTOP/舜宇
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/2/14 9:08:58
- 訪問次數(shù) 969
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晶圓缺陷光學(xué)檢測設(shè)備是由高精度光學(xué)檢測顯微鏡搭載全自動晶圓搬運(yùn)系統(tǒng)組成,,支持4-12寸的晶圓尺寸,可輕松實(shí)現(xiàn)多角度,、全視野的宏觀檢查,、以及晶圓微觀細(xì)節(jié)的高清捕捉,可對半導(dǎo)體過程工藝中的關(guān)鍵參數(shù),、缺陷問題進(jìn)行有效監(jiān)控,,是晶圓來料檢測和工藝控制流程缺陷分析的高效利器。
晶圓缺陷光學(xué)檢測設(shè)備兼具穩(wěn)定性和安全性,,能夠安全可靠的傳送晶圓,,適合于前道到后道工程的晶圓檢查一個(gè)晶圓在經(jīng)過一系列復(fù)雜工序后最終變成多個(gè)IC單元,期間晶圓需要依賴搬運(yùn)機(jī)在處理站之間執(zhí)行快速,、精確的傳送作業(yè),。納米級厚度的晶圓很容易在傳送過程中損壞,而且還須確保在工序中晶圓表面不得有臟污,、缺陷等,。

SOPTOP擁有AWL046、AWL068,、AWL812三種機(jī)型,,多類配置,分別可適用于 4/6 英寸,,6/8英寸,、8/12英寸的晶圓檢測,適應(yīng)范圍廣,、搭配靈活 ,。

可自由設(shè)置的檢查模式,充分符合人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì),,操作舒適,、簡便。

一,、應(yīng)用領(lǐng)域:

二,、360°宏觀檢查:
AWL系列具有宏觀檢查手臂,可以實(shí)現(xiàn)晶面宏觀檢查,、晶背宏觀檢查1的360°旋轉(zhuǎn),,更為容易發(fā)現(xiàn)傷痕和微塵。通過操作桿可隨意將晶圓傾斜觀察,。晶面最大傾斜角度70°,,晶背1最大傾斜角度90°,,晶背2最大傾斜角度160°,利用旋轉(zhuǎn)功能,、傾斜角度,,可以目視檢查整個(gè)晶圓正反面及邊緣。

三,、人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì):
LCD 顯示屏,,可為操作者提供更直觀的視覺體驗(yàn),可清晰的顯示當(dāng)前檢查項(xiàng)目及次序,,調(diào)試參數(shù)一目了然,。手動快速釋放真空載物臺可提高操作者的舒適度和工作效率,。

四,、精密微觀檢查:
采用專業(yè)半復(fù)消色差金相物鏡,可滿足明場,、暗場,、DIC、偏光等多種觀察方式,。全新電動控制系統(tǒng),,可排查 μm 級異常,諸如孔未開出,,短路,,斷路,沾污,,氣泡,,殘留等。
