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納米壓痕測試儀（Nanoindentor） 主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量,，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度,、蠕變、彈性功,、塑性功,、斷裂韌性、應...

晶圓檢測機采用非接觸檢測系統(tǒng),，對晶圓的平面度,、厚度、粗糙度等進行檢測并分類,，并完成晶圓標記及數(shù)據處理,。該設備產能：1片/分鐘,。該設備主要包含：運動機構：將晶圓放...

等離子體納米表面處理改造系統(tǒng)是針對于高校，科學研究所和企業(yè)實驗室,，或者小批量生產的創(chuàng)新性企業(yè)而研發(fā)的創(chuàng)新型實驗平臺,。我們收集了大量客戶使用信息，分析應用需求,，將...

等離子體納米改性升級系統(tǒng)是針對于高校,，科學研究所和企業(yè)實驗室，或者小批量生產的創(chuàng)新性企業(yè)而研發(fā)的創(chuàng)新型實驗平臺,。我們收集了大量客戶使用信息,，分析應用需求，將多年...

半導體分立器件測試儀系統(tǒng)單管及模塊,、整流橋,、可控硅、光耦,、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測試,。

IGBT靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)單管及模塊、整流橋,、可控硅,、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測試,。

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本試驗裝置能夠對軸流,、貫流、離心等形式風機的風壓-風量,、功率-風量進行全性能測試與性能曲線繪制,。本試驗裝置采用風機排風測量和送風測量兩種形式，風室風洞測試的方法...

CS-P100 納米顆粒氣溶膠發(fā)生器可產生納米級的氣溶膠顆粒,。輸出顆粒濃度穩(wěn)定而且在較寬的范圍內可調,，產生的氣溶膠顆粒可模擬核燃料循環(huán)過程中產生的氣溶膠顆粒,。此...

本試驗裝置能夠對軸流,、貫流、離心等形式風機的風壓-風量,、功率-風量進行全性能測試與性能曲線繪制,。本試驗裝置采用風機排風測量和送風測量兩種形式，風室風洞測試的方法...

NT-H1618是一個全自動及轉塔式高速測試和編帶系統(tǒng),，設計用于接收輸入模組里的分散封裝器件,，將每個器件拾取并放至在旋轉轉盤上，對測試接觸器上的器件進行功能測試...

要檢測電子電氣產品中4項鄰苯二甲酸酯化學物質的含量,，需要將電子樣品粉碎,，提取,，除雜，然后濃縮,，最后用對應的儀器進行檢測,，前期樣品前處理，需要花很長的時間,。

XRF-350B是一款專門RoHS檢測儀器，其核心光路系統(tǒng)集合國內外幾十年EDXRF技術,，核心部件采用美國,，軟件算法采用美國EDXRF前沿技術，儀器所用標準樣品...

LASAIR III 110是一款1.0 CFM流量的激光粒子計數(shù)器,，使用的激光源為激光二極管半導體光源,，是能夠真正準確監(jiān)測空氣中0.1微米的激光粒子計數(shù)器。這...

參考標準： 參考標準： 參考標準： 參考標準：1. GB/T14295 GB/T14295 -20 19 空氣過濾器,， 空氣過濾器,， 空氣過濾器，2. GB /...

110型激光塵埃粒子計數(shù)器用于測量潔凈環(huán)境中單位體積空氣內的塵埃粒子大小及數(shù)目,，最小粒徑檔0.1μm,，流量為28.3L/min?？芍苯訖z測潔凈度等級為三十萬級至...

ICP 3600A電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀用于測定各種物質中的常量,、微量、痕量元素的含量,。具有高效,、抗干擾性強、自動化程度高,、操作簡便,、穩(wěn)定可靠、測試范圍廣,、...

特點和優(yōu)勢TM D9650 C-SAM®超聲波顯微鏡的現(xiàn)代標準® 精準的C-SAM 檢測并具有最大的靈活性D9650是現(xiàn)代超聲波顯微鏡(AM...

可焊性測試儀5200T適用于Wetting Balance與Dip and Look的測試與評價,，5200T可針對助焊劑、焊錫等焊接材料以及各種電子元器件,、PC...

高溫箱適用于實驗室,、化工、醫(yī)藥及各種電子產品烘烤,，環(huán)氧樹脂工藝品烘烤,，電器澆筑烘烤及各種磁性配件及金屬材料的烘烤，溫度內烘焙,、干燥,、消毒,，熱處理老化及其它加熱用...