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K系列 博曼BOWMAN高精度鍍層測量儀K 系列是客戶測量各種樣品的理想之選,，在高度不超過9英寸（228 mm）的工件上具有優(yōu)于同類產(chǎn)品的12英寸（304 mm...

奧林巴斯 測厚儀 Magna-Mike 8600Magna-Mike 8600是一款利用簡單的磁法對非鐵性材料進(jìn)行可靠且重復(fù)性很高的厚度測量的便攜式測厚儀,。Ma...

布魯克 X射線鍍層測厚儀M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺式X射線鍍層測厚儀，結(jié)構(gòu)緊湊,、占用空間小,。

鍍層測厚儀M1M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析,。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號（鈦）-92號（鈾）中的元素...

大尺寸鍍層測厚儀M2 BLIZZARD采用開槽設(shè)計,，適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品。

布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE（立方）是一種以脈沖復(fù)位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器,，借助外部電阻器,，也可以以連續(xù)復(fù)位...

DANTE數(shù)字脈沖處理器DANTE數(shù)字脈沖處理器伽馬射線探測器信號，數(shù)字脈沖處理器,，前置放大器芯片,，X射線信號，前置放大器芯片,，SDD探測器,，同步輻射光源。

薄膜測厚儀MProbe系列反射光譜干涉法是一種非接觸式,、無損的,、快速的光學(xué)薄膜厚度測量技術(shù)。

反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。

反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量,。

反射膜厚儀MProbe RT該機(jī)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量,。

反射膜厚儀MProbe NIR采用近紅外光譜（NIR）的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域，比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜（CIGS,...

顯微反射膜厚儀MProbe MSPMProbe MSP顯微薄膜測厚儀適用于實時在線測量,，多層測量,，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫（超過500材料），新材料可以...

涂層測厚儀SURFIX®X系列測量儀器: 彩屏, PC 連接,，易操作,以及適合PHYNIX探頭

涂層測厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆,、油漆和電鍍以及陽氧化涂層的快速測量

涂層測厚儀SURFIX®簡易系列Surfix® 簡易系列的測量探頭均由硬質(zhì)合金制成，這意味著它具有幾乎無限的使用壽命,。

便攜式涂層測厚儀PaintCheck不能測量涂層的厚度,，也能提供有關(guān)涂層結(jié)構(gòu)的有價值信息

涂層測厚儀 探頭我們提供多種不同的儀器和探頭,，幾乎能夠測量金屬材料的涂層厚度,。

膜厚儀EDX8000B應(yīng)用場景EDX8000B鍍層測厚儀可以用于PCB鍍層厚度測量，PCB鍍層分析,，金屬電鍍鍍層分析,；測量的對象包括鍍層、敷層,、貼層,、涂層、化學(xué)...