產(chǎn)品概述
采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測量。
測量范圍: 100 nm -200um
波長范圍: 900 nm -2500 nm
適用于實時在線測量,,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),,新材料可以很容易的添加,,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
測量指標:薄膜厚度,光學常數(shù)
界面友好強大: 一鍵式測量和分析,。
實用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,,背景和變形校正,連接層和材料,,多樣品測量,,動態(tài)測量和產(chǎn)線批量處理。