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高功率脈沖PIV測試系統(tǒng),,由MauryMicrowave和AMCADEngineering提供
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WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何表面形貌檢測設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可
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在霍爾效應(yīng)傳感器中,,自由電子的移動能力通過遷移率來量化,,這是衡
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電子束蝕刻機(jī),電子束光刻機(jī)是納米級刻蝕機(jī),非常適合納米技術(shù)和芯
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激光分子束外延系統(tǒng)LaserMBE是新型激光薄膜制備技術(shù)設(shè)備,它集成了
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超高真空激光分子束外延團(tuán)簇系統(tǒng)lasercluster將不同的薄膜和分析技
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即少數(shù)載流子壽命。光生電子和空穴從一開始在半導(dǎo)體中產(chǎn)生直到消失