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非接觸霍爾遷移率

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公司成立于2021年,,是一家注冊在蘇州、具備技術(shù)的非接觸式半導體檢測分析設備制造商,。公司集研發(fā),、設計、制造,、銷售于一體,,主要攻克國外壟斷技術(shù),替代進口產(chǎn)品,,使半導體材料測試設備國產(chǎn)化,。

主要產(chǎn)品:非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀,、方阻測試儀,、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀,、晶錠電阻率分析儀,、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率(霍爾)測試儀,、少子壽命測試儀,,晶圓、硅片厚度測試儀,、表面光電壓儀JPV\SPV,、汞CV、ECV。碳化硅,、硅片,、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案,。

憑借*的技術(shù)和豐富的產(chǎn)品設計經(jīng)驗,,申請各項知識產(chǎn)權(quán)20余項,已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導體專用設備提供商,,產(chǎn)品得到眾多國內(nèi)外主流半導體廠商的認可,,并取得良好的市場口碑。





晶圓電阻率測試儀,,硅片電阻率測試儀,,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,,遷移率測試儀,,少子壽命測試儀

價格區(qū)間 面議 應用領域 電子/電池,電氣
在霍爾效應傳感器中,自由電子的移動能力通過遷移率來量化,,這是衡量電子在材料中移動難易程度的關鍵指標。遷移率典型范圍一般在5至50平方厘米/伏秒之間

?霍爾遷移(Hall mobility)是指霍爾系數(shù)RH與電導σ的乘積,,即│RH│σ,,具有遷移率的量綱,因此特別稱為霍爾遷移率,,表示為μH =│RH│σ?,。?12

定義和計算方法

霍爾遷移率是霍爾系數(shù)RH與電導率σ的乘積。在簡單情況下,,霍爾遷移率μH等于載流子的電導遷移率μ,,但在考慮速度分布的情況下,兩者可能不相等,。只有在不考慮速度分布的情況下,,霍爾遷移率才等于電導遷移率。

應用領域

霍爾遷移率在電子材料中是一個重要指標,,特別是在GaN基HEMT結(jié)構(gòu)材料中,。高電子遷移率可以提升器件的工作速度和效率,減少膝點電壓,,從而使器件在較高頻率下工作,,具有更高的效率。

霍爾效應傳感器中,,自由電子的移動能力通過遷移率來量化,,這是衡量電子在材料中移動難易程度的關鍵指標。遷移率典型范圍一般在5至50平方厘米/伏秒之間




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