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賽默飛色譜及質(zhì)譜

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賽默飛SEMICON錦囊打包,,滿足您的分析需求

閱讀:2175      發(fā)布時(shí)間:2019-3-26
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2019322日,,歷時(shí)三天的SEMICON CHINA 2019展會(huì)在上海落下帷幕。賽默飛擁有行業(yè)的解決方案,,為半導(dǎo)體及相關(guān)行業(yè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)提供多層次技術(shù)支撐,。半導(dǎo)體行業(yè)分析利器——Thermo Scientific™ iCAP™ TQs(三重四極桿)ICP-MS的亮相,吸引眾多觀眾駐足交流學(xué)習(xí),。

 

賽默飛展臺(tái)

 

半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展,,生產(chǎn)力的發(fā)展。1984年個(gè)人電腦開始普及,、1990年互聯(lián)網(wǎng)誕生,、20023G通信時(shí)代來臨、2007年智能手機(jī)誕生,這些時(shí)間節(jié)點(diǎn)上的變化,,其實(shí)都有半導(dǎo)體行業(yè)的大進(jìn)展,。GDP的增長,半導(dǎo)體的影響可謂功不可沒,。

 

硅晶片是應(yīng)用廣泛的半導(dǎo)體基材,,工業(yè)上使用對其純度要求特別高,通常需要在99.9999999% 以上,。在生產(chǎn)制造過程中,,通常需要對其純度進(jìn)行檢測。常用硅純度檢測的方法如:氣相分解電感耦合等離子體質(zhì)譜聯(lián)用方法(簡稱 VPD 法),,具有業(yè)界所需的檢測限和穩(wěn)定性,,測試結(jié)果快速可靠。為了得到更加的結(jié)果,,去除基體溶液中多原子離子的干擾是非常必要的,,比如使用串接式ICP-MS iCAP™ TQs

 

賽默飛iCAP™ TQs ICP-MS助力半導(dǎo)體發(fā)展

賽默飛專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)和銷售團(tuán)隊(duì)現(xiàn)場與觀眾進(jìn)行深入探討交流,,為半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展貢獻(xiàn)一份力量,。

 

領(lǐng)略TQ技術(shù)的干擾消除能力,確保準(zhǔn)確可靠的測試結(jié)果

利用多達(dá)四種不同的碰撞反應(yīng)氣體和*的Reaction Finder技術(shù)來簡化方法開發(fā)步驟,。無需擁有復(fù)雜反應(yīng)化學(xué)的高深知識(shí),,Reaction Finder幫您完成一切

綜合反應(yīng)氣體處理功能,確保儀器操作安全可靠

采用預(yù)設(shè)的單模式動(dòng)能歧視效應(yīng)(KED),,簡便,、快速、可靠地獲得SQ的分析結(jié)果

在單個(gè)樣品的分析中輕松實(shí)現(xiàn)從SQTQ模式的切換,,保證大的分析靈活性,,為完整分析提供jia結(jié)果

 

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多層次技術(shù)支撐滿足您的分析要求

 

 

一、痕量金屬及無機(jī)元素雜質(zhì)檢測方案

1. ICP-MS 檢測解決方案

Thermo Scientific™ ICP-MS 產(chǎn)品包括Thermo Scientific™ iCAP™ RQ (單四極桿) Thermo Scientific™ iCAP™ TQs(三重四極桿),,可輕松實(shí)現(xiàn):

1)高純試劑(清洗劑和刻蝕劑)中痕量元素雜質(zhì)實(shí)驗(yàn)室和在線分析,;

2)單晶硅錠和晶圓中痕量元素分析;

3wafer 表面痕量元素分析,。

 

ICAP RQ

 

ICAP TQ

 

2. 高分辨 ICP-MS 檢測解決方案

HR-ICP-MS 是以電磁場和靜電場作為質(zhì)量分析器,,結(jié)合zhuan利的固定分辨率狹縫技術(shù)實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量分辨率的ICP-MS。采用高分辨ICP-MS 分析半導(dǎo)體級別試劑中雜質(zhì)元素更簡單方便,,高分辨ICP-MS 具有更強(qiáng)的抗干擾能力,。

ELEMENT™ 系列 ICP-MS

 

二、痕量離子態(tài)雜質(zhì)檢測方案

1. 離子色譜IC)檢測解決方案

賽默飛提供世jie zui 先進(jìn)的離子色譜和相關(guān)技術(shù)為高純水痕量陰陽離子分析的離線和在線監(jiān)測,、半導(dǎo)體表面痕量陰陽離子污染分析,、高純試劑中離子雜質(zhì)和工作場所空氣中痕量離子態(tài)物質(zhì)的分析提供解決方案,。尤其是高純水,幾乎半導(dǎo)體生產(chǎn)的所有過程均需要使用,,因此其質(zhì)量非常重要,,如ASTM SEMI 對高純水中雜質(zhì)離子有不同的明確限值要求。

 

通過賽默飛離子色譜,,采用大定量環(huán)上樣,,可實(shí)現(xiàn)高純水中ppt 級別雜質(zhì)分析:

 

Dionex™ ICS-6000多功能高壓離子色譜

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