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德國(guó)菲希爾熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀
熒光光譜鍍層厚度測(cè)量?jī)x膜厚測(cè)試儀優(yōu)點(diǎn)
德國(guó)設(shè)計(jì) ,，技術(shù)先進(jìn)
一個(gè)軟件實(shí)現(xiàn)鍍層厚度測(cè)量和材料分析兩個(gè)功能
擴(kuò)展統(tǒng)計(jì)功能,。例如,，測(cè)量結(jié)果可以記錄并轉(zhuǎn)為SPC圖表顯示
圖像識(shí)別：WinFTM可以自行查找預(yù)設(shè)的測(cè)量位置
基于基本參數(shù)分析的無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量：在手邊樣本組成未知的情況下實(shí)現(xiàn)精確的測(cè)量結(jié)果
距離控制測(cè)量（DCM）：允許通過(guò)快速更改測(cè)量距離，在不需要設(shè)置和校準(zhǔn)另一個(gè)測(cè)量任務(wù)的情況下,，測(cè)量不同高度的測(cè)試部件,。軟件能夠識(shí)別測(cè)量的距離，并自動(dòng)校正評(píng)估,。
測(cè)量質(zhì)量：我們的儀器可以判斷您的測(cè)量質(zhì)量。錯(cuò)誤地選擇了錯(cuò)誤的測(cè)量任務(wù)或測(cè)量了錯(cuò)誤的樣品,？您的FISCHERSCOPE儀器會(huì)提醒您
任務(wù)程式：只需單擊一下,，幾乎可以對(duì)WinFTM軟件中執(zhí)行的所有操作進(jìn)行編程并執(zhí)行。例如,，一項(xiàng)任務(wù)可以自動(dòng)測(cè)量多個(gè)合金樣品,。 X射線儀器將XY工作臺(tái)移動(dòng)到樣品位置，加載每個(gè)合金特定的測(cè)量條件,，最后根據(jù)您的需要生成測(cè)試報(bào)告
FISCHERSCOPE X射線熒光儀器
在無(wú)損無(wú)接觸的涂層厚度測(cè)量和材料分析領(lǐng)域,，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇。自1983年以來(lái),，我們的X射線儀器已成為幾乎所有主要行業(yè)質(zhì)量測(cè)試的一個(gè)組成部分,。我們的儀器以其精確性、準(zhǔn)確性和耐用性而聞名,。同時(shí),，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線的設(shè)計(jì)易于使用，并在測(cè)量的各個(gè)方面為您提供支持,。 這使您可以專注于手頭上的質(zhì)量工作,，而不是測(cè)量?jī)x器上。
我們的X射線儀器配有專用的FischerWinFTM軟件,，旨在規(guī)范測(cè)量過(guò)程,。這包括控制X射線、實(shí)現(xiàn)測(cè)量的可追溯性,、生成個(gè)性化測(cè)量報(bào)告以及與內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)交互,。
我們種類齊全的X射線設(shè)計(jì)用于高可靠性地測(cè)量不同的應(yīng)用。電子,、電鍍,、汽車、黃金和珠寶等領(lǐng)域的公司以及更多的公司都依賴于FISCHERSCOPE X射線儀器進(jìn)行質(zhì)量控制?，F(xiàn)在就來(lái)看看我們的X光儀器并找出原因吧,！
德國(guó)菲希爾熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
熒光光譜鍍層厚度測(cè)量?jī)x膜厚測(cè)試儀，采用手動(dòng)方式,，測(cè)量和分析印刷電路板,、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層,。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237
X 射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，配備可編程運(yùn)行 X/Y 工作臺(tái)及 Z 軸升降系統(tǒng),，全自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層厚度和分析材料成分,。
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度及分析材料成分
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252
高性能X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀,，用于快速,、無(wú)損分析材料成分及測(cè)量鍍層厚度
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