德國FISCHER熒光測厚及材料分析儀XRAY XAN 250 和 XAN 252

簡介

FISCHERSCOPE XRAY XAN 250 和 XAN 252 兩款儀器都是結(jié)構(gòu)緊湊且應用廣泛的能量色散型X射線熒光測厚及鍍層測厚儀,，通常用于無損測量鍍層厚度及分析材料成分,。

XAN 250 和 XAN 252 特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復雜或含量微小也都能準確測量,。

典型的應用領域

·在電子和半導體工業(yè)中,，測量功能性鍍層，鍍層厚度最薄可低至數(shù)納米

·出于保護消費者為目的的痕量分析,，如玩具中的鉛含量等

·在珠寶,、手表業(yè)及金屬冶煉業(yè)中,，以最高的精度分析合金成分

·高科院校的學術研究以及工業(yè)領域的技術研發(fā)

為了使每次測量都能在良好的條件下進行，儀器配備了可電動切換的多種準直器及基本濾片,。先進的硅漂移接收器能夠達到非常高的分析精度及探測靈敏度,。

正如所有的 FISCHERSCOPE XRAY 儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性,，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力,。對于高精度要求的測量任務，則可隨時進行必要的校準,。

依靠 FISCHER的基本參數(shù)法,，可以在沒有校驗標準片校正的情況下，準確分析固,、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度,。

德國FISCHER熒光測厚及材料分析儀XRAY XAN 250 和 XAN 252

XAN 250 和 XAN 252 兩款儀器都是用戶界面友好的臺式測量儀器。它們的區(qū)別在于工作臺及測量箱的尺寸,。

·XAN 250:固定工作臺

·XAN 252: 手動 XY 工作臺,，用于細小樣品的精確定位，并裝配了大體積測量室,。

為了樣品定位簡單快捷,，X射線發(fā)生器和半導體接收器都集成在儀器下部艙室中，因而樣品的底部是實際被測量面,，樣品則由一層透明的薄膜托放在測量室中,。

內(nèi)置可變焦視頻系統(tǒng)和定位十字線，可以方便地放置樣品,，并進行精確的測量點調(diào)整,。

通過功能強大、界面友好的 WinFTM·軟件,，可以在計算機上便捷地完成整個測量過程,，以及測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關信息的顯示等。

FISCHERSCOPE XRAY XAN 250 和 XAN 252 滿足 DIN ISO 3497 標準和 ASTM B 568 標準,，型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)的規(guī)定,。