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碳化硅的厚度范圍?可以從幾微米到幾毫米不等,具體取決于其應(yīng)用場景和制造工藝,。例如,,碳化硅晶圓片的厚度可以達(dá)到130微米(um),而碳化硅顆粒的尺寸則有1-3mm...
非接觸式無損測厚儀采用的工作原理是光熱紅外法,。利用光源照射物體表面,通過對激勵光源進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制,,在材料中產(chǎn)生熱波,光源激發(fā)的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播,,這一...
非接觸式無損測厚儀采用的工作原理是光熱紅外法,。利用光源照射物體表面,通過對激勵光源進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制,在材料中產(chǎn)生熱波,,光源激發(fā)的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播,,這一...
非接觸式無損測厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對激勵光源進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制,,在材料中產(chǎn)生熱波,,光源激發(fā)的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播,這一...
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,,晶圓的厚度測量是至關(guān)重要的一環(huán),,它直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。為了滿足高精度測量的需求,我們研發(fā)了一款對射非接觸式光譜共焦位移傳感器厚度測量設(shè)...
金剛石膜檢測與測試報告 檢測項(xiàng)目 金剛石膜的檢測項(xiàng)目主要包括以下幾個方面:膜厚度,、晶體結(jié)構(gòu),、表面粗糙度、附著力,、熱穩(wěn)定性及耐磨性等,。
硅片厚度測試的方法主要包括非接觸式光學(xué)測量技術(shù),如反射率法,、干涉法和激光掃描共聚焦顯微鏡等??1,。其中,反射率法是通過測量不同角度下光線的反射率變化來計算硅片厚...
非接觸式半絕緣方阻測量技術(shù)可以廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域,比如材料表面導(dǎo)電性測試,、薄膜導(dǎo)電性測量,、電路板測試等。它具有測量快速,、精度高,、不損傷被測物體等優(yōu)點(diǎn)。
半絕緣電阻率通常介于1-1000歐姆·厘米之間,,是描述半絕緣材料導(dǎo)電性能的關(guān)鍵參數(shù),。這種材料在電子工業(yè)中應(yīng)用廣泛,特別是在制造半導(dǎo)體器件,、絕緣層和光電...
玻璃領(lǐng)域 半導(dǎo)體玻璃的電阻率及某些物理化學(xué)性質(zhì)在光,、電、熱等作用下可發(fā)生顯著改變,,從而賦予其的性能,。半導(dǎo)體玻璃已廣泛應(yīng)用于光電倍增器、存儲器件,、電子開關(guān)等領(lǐng)域。
晶錠與晶片在半導(dǎo)體行業(yè)中扮演著不同的角色,,它們之間的區(qū)別主要體現(xiàn)在形態(tài),、制備方式及應(yīng)用領(lǐng)域上。首先,,晶錠,,或稱為單晶硅棒,是一種長條狀的半導(dǎo)體材料,,通常采用特定...
隨著光伏產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展,,生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量的提升已成為行業(yè)關(guān)注的焦點(diǎn)。在光伏電池片的生產(chǎn)中,,方阻檢測是確保電池片質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一,。傳統(tǒng)的方阻檢測方法大多...
主要利用結(jié)光電壓技術(shù)非接觸測試具有P/N或N/P結(jié)構(gòu)的樣品的方阻(發(fā)射極薄層方阻),本儀器為非接觸,非損傷測試,,具有測試速度快,,重復(fù)性佳,測試敏感性高,,可以直接...
在霍爾效應(yīng)傳感器中,,自由電子的移動能力通過遷移率來量化,這是衡量電子在材料中移動難易程度的關(guān)鍵指標(biāo),。遷移率典型范圍一般在5至50平方厘米/伏秒之間詳情介紹?我公...
在霍爾效應(yīng)傳感器中,,自由電子的移動能力通過遷移率來量化,這是衡量電子在材料中移動難易程度的關(guān)鍵指標(biāo),。遷移率典型范圍一般在5至50平方厘米/伏秒之間
即少數(shù)載流子壽命,。光生電子和空穴從一開始在半導(dǎo)體中產(chǎn)生直到消失的時間稱為壽命。載流子壽命就是指非平衡載流子的壽命,。而非平衡載流子一般也就是非平衡少數(shù)載流子(因?yàn)?..
外延電阻率方阻測試儀:外延是半導(dǎo)體工藝當(dāng)中的一種,。在bipolar工藝中,硅片最底層是P型襯底硅(有的加點(diǎn)埋層),;然后在襯底上生長一層單晶硅,,這層單晶硅稱為外延...
襯底電阻率方阻測試儀:襯底,或稱基片(substrate),,是指在半導(dǎo)體器件制造過程中用來支持其他材料或結(jié)構(gòu)的底層材料,。襯底的物理性質(zhì)包括其晶體結(jié)構(gòu)、機(jī)械強(qiáng)度,、...
玻璃方阻測試儀應(yīng)用ITO導(dǎo)電玻璃的時候,,往往會提到一個重要的參數(shù),這個參數(shù)就是:方阻,,也稱方塊電阻,。同時,我們也可以將其理解為ITO的表面電阻率,。
金屬薄膜方阻測試儀:金屬薄膜方阻,,方塊電阻又稱膜電阻,是用于間接表征薄膜膜層,、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值,,該數(shù)值大小可直接換算為熱紅外輻...
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