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當前位置：九域半導體科技（蘇州）有限公司>>產(chǎn)品展示>>晶圓方阻測試儀>>非接觸方阻測試儀
非接觸式半絕緣方阻測量技術可以廣泛應用于各種領域,比如材料表面導電性測試,、薄膜導電性測量,、電路板測試等,。它具有測量快速,、精度高、不損傷被測物體等優(yōu)點,。
我司憑借先進的技術和豐富的產(chǎn)品線,，已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導體專用設備提供商，主營非接觸方阻測試儀,、晶圓方阻測試儀,，方阻測試儀，硅片電阻率測...
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