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當(dāng)前位置：九域半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司>>產(chǎn)品展示>>晶圓方阻測試儀>>晶圓電阻率測試儀
襯底電阻率方阻測試儀：襯底,，或稱基片（substrate）,，是指在半導(dǎo)體器件制造過程中用來支持其他材料或結(jié)構(gòu)的底層材料。襯底的物理性質(zhì)包括其晶體結(jié)構(gòu),、機(jī)械強(qiáng)度,、...
晶圓電阻率測試儀：電阻率（resistivity）是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。在溫度一定的情況下,，有公式R=ρl/S,，其中ρ就是電阻率，l為材料的長度,，...
主營產(chǎn)品：晶圓方阻測試儀,、晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀,，渦流法低電阻率分析儀,，晶錠電阻率分析儀,，遷移率（霍爾）測試儀,，少子壽命測試儀，測試硅片,，碳化硅,、科...
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