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非接觸式半絕緣方阻測(cè)量技術(shù)可以廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域,比如材料表面導(dǎo)電性測(cè)試、薄膜導(dǎo)電性測(cè)量,、電路板測(cè)試等,。它具有測(cè)量快速,、精度高,、不損傷被測(cè)物體等優(yōu)點(diǎn),。

隨著光伏產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展,，生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量的提升已成為行業(yè)關(guān)注的焦點(diǎn),。在光伏電池片的生產(chǎn)中,，方阻檢測(cè)是確保電池片質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一,。傳統(tǒng)的方阻檢測(cè)方法大多...

外延電阻率方阻測(cè)試儀：外延是半導(dǎo)體工藝當(dāng)中的一種。在bipolar工藝中,，硅片最底層是P型襯底硅（有的加點(diǎn)埋層）,；然后在襯底上生長(zhǎng)一層單晶硅，這層單晶硅稱為外延...

襯底電阻率方阻測(cè)試儀：襯底,，或稱基片（substrate）,，是指在半導(dǎo)體器件制造過(guò)程中用來(lái)支持其他材料或結(jié)構(gòu)的底層材料。襯底的物理性質(zhì)包括其晶體結(jié)構(gòu),、機(jī)械強(qiáng)度,、...

玻璃方阻測(cè)試儀應(yīng)用ITO導(dǎo)電玻璃的時(shí)候，往往會(huì)提到一個(gè)重要的參數(shù),，這個(gè)參數(shù)就是：方阻,，也稱方塊電阻。同時(shí),，我們也可以將其理解為ITO的表面電阻率,。

氮化鎵電阻率方阻測(cè)試儀：氮化鎵是一種無(wú)機(jī)物，化學(xué)式GaN,，是氮和鎵的化合物,，是一種直接能隙（direct bandgap）的半導(dǎo)體，自1990年起常用在發(fā)光二極...

晶圓電阻率測(cè)試儀：電阻率（resistivity）是用來(lái)表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量,。在溫度一定的情況下,，有公式R=ρl/S，其中ρ就是電阻率,，l為材料的長(zhǎng)度,，...

我司憑借先進(jìn)的技術(shù)和豐富的產(chǎn)品線，已發(fā)展成為中國(guó)大陸少數(shù)具有一定國(guó)際競(jìng)爭(zhēng)力的半導(dǎo)體專用設(shè)備提供商,，主營(yíng)非接觸方阻測(cè)試儀,、晶圓方阻測(cè)試儀，方阻測(cè)試儀,，硅片電阻率測(cè)...

主營(yíng)產(chǎn)品：晶圓方阻測(cè)試儀、晶圓電阻率測(cè)試儀,，硅片電阻率測(cè)試儀,，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀,，遷移率（霍爾）測(cè)試儀,，少子壽命測(cè)試儀，測(cè)試硅片,，碳化硅,、科...