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　　薄膜反射儀是一種功能強大切且非接觸式的薄膜測量方法,，當薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)在測量系統(tǒng)范圍內(nèi)時,，系統(tǒng)能又快又輕松的測量。在用來測量薄膜厚度時,，有幾種常見的對光譜反射儀的誤解,。薄膜反射儀采用*的反射光測試原理進行測試，入射光被帶顏色的測試條吸收,；通過測量被吸收的光的強度,，被分析物的濃度被計算出來。RQ反射儀有兩種類型：基本型反射儀和加強型反射儀。測試系統(tǒng)由RQ系列反射儀,，條行碼和RQ反射試紙條組成,。采用*的反射光測試原理，條行碼自動識別技術(shù),，避免操作誤差,，無須對儀器進行校正。儀器的雙光束檢測,，同時進行兩次測量,，增加了分析測試的準確性。

　　是一種非標準的測儀器,，各個牌子的儀器功能與性能各不相同,，有的差別很大，但一般都有如下的功能：

　　1,，能檢測各種不同類型的薄膜開關(guān)

　　2,，能測試薄膜開關(guān)的通路，短路,，斷路

　　3,，能測試薄膜開關(guān)連線電阻（阻值是否超標）

　　4，能測試出微短路,，絕緣不良

　　可以實現(xiàn)產(chǎn)品的厚度檢測,，實現(xiàn)了高精度檢測服務(wù)。我們使用超聲波測厚儀可以幫助我們更好的實現(xiàn)高精度檢測,，同時降低對設(shè)備的破壞,。我們可以利用這款設(shè)備實現(xiàn)高效的檢測，通過該設(shè)備我們會還可以實現(xiàn)非接觸檢測,，幫助實現(xiàn)高效的檢測服務(wù),。

德國韋氏納米系統(tǒng)有限公司

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