晶圓厚度測量儀 MX 102-8 

適用于 150 - 200 mm硅片的高分辨率厚度與平整度（TTV）測量儀,。只需幾秒鐘即可輕松適應(yīng)不同厚度范圍,，可集成到自動機(jī)器人分揀系統(tǒng)中。適用于研發(fā),、工藝驗證以及厚度和平整度（TTV）的工藝控制,。一對電容式傳感器會在每片晶圓上測量四個徑向輪廓（45 度角）。其中一個輪廓包含 200 個局部厚度值,，并相對于相鄰輪廓偏移 45 度,。配有強(qiáng)大的 MX-NT 操作軟件。

儀器功能：
晶圓厚度測量儀 MX 102-8基于已有的適用于 150 mm和 200mm晶圓的類似測量設(shè)備,，MX 102 能夠生成四個（或八個）徑向剖面圖,，每個剖面圖包含數(shù)百個精確的厚度數(shù)據(jù)點。該設(shè)備配備了一對分辨率為 10 納米的電容式傳感器,，能夠在數(shù)秒內(nèi)快速適應(yīng)不同的厚度測量范圍,。在每次掃描之前，設(shè)備會通過一個經(jīng)過認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)量塊實現(xiàn)自動重新校準(zhǔn),，以確保測量結(jié)果的高度準(zhǔn)確性,。

多次掃描：
對于眾多應(yīng)用場景而言，標(biāo)準(zhǔn)的四次徑向掃描通常已能滿足需求,，特別是針對經(jīng)過研磨處理后接近旋轉(zhuǎn)對稱特性的晶圓,。從理論角度分析，通過增加掃描次數(shù),，可實現(xiàn)對晶圓表面約 50% 區(qū)域的覆蓋,。然而，由于晶圓支撐結(jié)構(gòu)的存在,，其余部分區(qū)域則會位于支撐點所形成的“遮擋范圍"內(nèi),，難以直接進(jìn)行掃描。

XN-Option：
針對 200 mm晶圓,，通過引入一種簡易的附加運動即可有效解決上述問題,。在測量周期的第一階段完成后，晶圓將被抬升,，并由兩個夾具進(jìn)行臨時固定,，與此同時，晶圓下方的轉(zhuǎn)盤執(zhí)行 45 度旋轉(zhuǎn)操作,。隨后,，晶圓重新下降至支撐結(jié)構(gòu)，并由真空吸盤完成二次夾緊,，此時測量周期的第二階段隨即啟動,，從而實現(xiàn)對剩余區(qū)域的全面覆蓋。

MX 102 在分辨率與通量之間實現(xiàn)了優(yōu)化平衡：第二次掃描周期的偏移角度為 22.5 度,，從而生成八個交叉掃描剖面,，總測量點數(shù)可達(dá)約 2400 個或更多。通過簡單的三維圖形化展示,，能夠直觀呈現(xiàn)晶圓的整體幾何特性,。