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高分辨二次離子質譜儀tof-sims是非常靈敏的表面分析手段,,憑借質譜分析、二維成像分析,、深度元素分析等功能,,廣泛應用于醫(yī)學、細胞學,、地質礦物學,、半導體、微電子...
SurfaceSeer I是一款高靈敏度,、高質量范圍,、高分辨率的SIMS二次離子質譜儀(TOF-SIMS),可以用于絕緣,、導電表面的成像分析與化學成分分析,。Su...
Kore SurfaceSeer I是一款高靈敏度的TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜儀,用于絕緣,、導電表面的成像分析與化學成分分析,。SurfaceSeer ...
Kore SurfaceSeer S在飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)系列中,是一款高性價比且經(jīng)久耐用的產(chǎn)品。它是研究樣品表面化學成分的理想選擇,,適用...
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