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瑞柯微炭素材料電阻率測(cè)試儀炭素材料電阻率測(cè)試儀計(jì)算公式,,4.3吋液晶屏幕顯示,,自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流,、電壓,、溫度,、電阻率等數(shù)據(jù),,選配:如配備軟件可,,通過軟件操控儀...
四探針電阻率方阻測(cè)試儀,、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),,本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口...
四探針涂層電阻率測(cè)試儀,,配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),,自動(dòng)生成報(bào)表,;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻,、電阻率,、方阻、溫度,、單...
四探針涂層電阻測(cè)試儀,,采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,,比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更...
四探針薄膜電阻率測(cè)試儀,,半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)性能和均勻性通過四探針法來測(cè)試,四探針測(cè)試儀根據(jù)量程可以劃分為,,低阻四探針測(cè)試儀測(cè)到-6次方,;高阻四探針測(cè)試儀測(cè)到7次方...
四探針薄膜電阻測(cè)試儀,手持式外型結(jié)構(gòu)適用于車間生產(chǎn),、品管抽檢,,外出、攜帶測(cè)量等要求測(cè)量的場(chǎng)所,;也適用于中小型半導(dǎo)體材料生產(chǎn)企業(yè).
四探針膜層電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》,、GB/T 1...
四探針膜電阻測(cè)試儀廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高,、低溫電熱膜;隔熱,、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽,、電阻測(cè)試
智能型方阻測(cè)試儀大顯示屏,直觀度數(shù),,穩(wěn)定性好,,可以外接其他控制單元,與其他系統(tǒng)集成使用,。適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,,高、低溫電熱膜;隔熱,、防輻射導(dǎo)電窗膜,;導(dǎo)電(...
導(dǎo)電布方塊電阻測(cè)試儀,參照標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.GB/T1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》.GB/T155...
導(dǎo)電性薄膜方阻測(cè)試儀測(cè)定方法,,按標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率...
四探針方塊電阻測(cè)試儀怎么用,,軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),,自動(dòng)生成報(bào)表,;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻,、電阻率,、方阻、溫度
涂層四探針電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨,參照 GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),,本機(jī)配置232電腦接口及US...
ITO導(dǎo)電箔膜四探針方阻測(cè)試儀操作步驟, 改善樣品因幾何尺寸,、邊界效應(yīng),、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更...
高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理,,高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng) 生產(chǎn)企業(yè),、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量,。用于:企業(yè),、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅,、鍺...
導(dǎo)電性陶瓷方塊電阻測(cè)試儀現(xiàn)貨,按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》,、并...
太陽能電池雙電四探針測(cè)試儀批發(fā),,雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),。
硅晶塊方阻電阻率測(cè)試儀廠家,本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法,,適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校、科研部門,,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具,。本儀器...
涂層雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀,該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),。利用電流探針,、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)...
導(dǎo)電性纖維四探針測(cè)試儀價(jià)格,,本機(jī)采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng),、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,,比市場(chǎng)上其他普通的四探針...
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