導電性薄膜方阻測試儀測定方法

  標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》,、GB/T 1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》

顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數(shù),、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距,、厚度 、電導率

測試方式: 普通單電測量

工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）

選購功能: 選購1.pc軟件,； 選購2.方形探頭,； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺

測試探頭：   探針間距選購：1mm,；2mm,；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

導電性薄膜方阻測試儀測定方法

配置各類測量裝置可以測試不同材料,。液晶顯示,，無需人工計算，并帶有溫度補償功能,，電阻率單位自動選擇,，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置,。采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出，結構合理,、質(zhì)量輕便,，運輸安全、使用方便,；選配：配備軟件可以由電腦操控,，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表