FT-340系列方阻測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,，

適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校,、科研部門,，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料,。液晶顯示,，無需人工計算，并帶有溫度補償功能,，電阻率單位自動選擇,，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置,。

采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便,，運輸安全、使用方便,；選配：配備軟件可以由電腦操控,，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表,；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,，

同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數(shù),、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

,，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求,。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。

該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準,。利用電流探針,、電壓探針的變換，進行兩次電測量,，

對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,，

FT-340系列方阻測試儀

它與單電測直線或方形四探針相比,，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試,。

廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,，高、低溫電熱膜;隔熱,、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布,、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽,、

合金類箔膜;熔煉,、燒結(jié)、濺射,、涂覆,、涂布層，電阻式,、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊,、晶片電阻率及擴散層,、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜,、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池,、

電子元器件,，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜,，導(dǎo)電漆膜,，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，

EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆,，導(dǎo)電性糊狀物,，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠,，導(dǎo)電性薄膜,，金屬薄膜，

抗靜電材料,， EMI 防護材料,，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等