涂層四探針電阻率測試儀現(xiàn)貨

  GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,，本機配置232電腦接口及USB兩種接口,，本機結合采用范德堡測量原理

四探針電阻率/方阻測試儀

1.方塊電阻范圍：10^-5～2×10⁵Ω/□

2.電阻率范圍：10^-6～2×10⁶Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA,，10μA,，100μA，1mA,，10mA,，100 mA

4.電流精度：±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數(shù),、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度 ,、電導率

7.測試方式: 普通單電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件,； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭,； 選購4.測試平臺

11.測試探頭：   探針間距選購：1mm,；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針,；鍍金磷銅半球形針

涂層四探針電阻率測試儀現(xiàn)貨

參照標準：

1.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）.

2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

雙電組合測試方法：

利用電流探針,、電壓探針的變換,，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,，解決樣品幾何尺寸,、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試,。