smart-1 IV曲線量測(cè)儀開短路測(cè)試I/V Curve
參考價(jià) | ¥ 670000 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 儀準(zhǔn)科技(北京)有限公司
- 品牌
- 型號(hào) smart-1
- 產(chǎn)地 中國(guó)臺(tái)灣
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2018/5/4 10:41:04
- 訪問次數(shù) 2669
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I/V曲線量測(cè)儀開短路測(cè)試
I/V曲線量測(cè)儀開短路測(cè)試
集成電路失效分析流程中,I/V CURVE的量測(cè)往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在*步),,可見curve量測(cè)的重要性,。隨著器件的pin腳數(shù)越來越多,傳統(tǒng)的curve tracer(多為手動(dòng))沒有辦法滿足時(shí)效的需求,。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的滿足了客戶的需求,,尤其是在BGA等通訊產(chǎn)品方面,具備安捷倫B1500和keithely4200*的便利性,。國(guó)內(nèi)客戶有:上海宜碩,、深圳宜智發(fā),、華為、珠海炬力,、蘇州瑞薩,、蘇州三星、東莞三星,、SMIC,、天水華天、無錫安盛,、深圳沛頓,、華測(cè)檢測(cè)等等
I/V曲線量測(cè)儀開短路測(cè)試
主要參數(shù):
1. 高分辨率之I/V量測(cè)范圍,Voltage Measure Range可達(dá) 200mV ~ 200V(需搭配keithly 2400), Current Measure Range可達(dá)1uA ~ 1A,,且測(cè)試Channel可從 64 pin逐步擴(kuò)充至Max.4096 pin,,以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測(cè)試需求。
2. 機(jī)臺(tái)主要測(cè)試功能,,包括:Open/Short Test,、I/V Curve Analysis、Idd Measuring,、Powered Leakage (漏電) Test
1. 高分辨率之I/V量測(cè)范圍,Voltage Measure Range可達(dá) 200mV ~ 200V(需搭配keithly 2400),, Current Measure Range可達(dá)1uA ~ 1A,且測(cè)試Channel可從 64 pin逐步擴(kuò)充至Max.4096 pin,,以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測(cè)試需求,。
2. 機(jī)臺(tái)主要測(cè)試功能,包括:Open/Short Test,、I/V Curve Analysis、Idd Measuring,、Powered Leakage (漏電) Test
I/V曲線量測(cè)儀開短路測(cè)試
可協(xié)助客戶解決其產(chǎn)品在DC Fail之電性分析,,并節(jié)省客戶上Functional Tester 之借機(jī)成本及時(shí)間。
3.采用電腦化控制的操作系統(tǒng),,比傳統(tǒng)的Curve Tracer更易于量取I/V data 及產(chǎn)生格式化的report,。
4.Windows的操作系統(tǒng),易學(xué)易懂,,而所建立的Device之Pin Assignment 可儲(chǔ)存在電腦中,,未來可重復(fù)被使用,比傳統(tǒng)的Switching Matrix更便利省時(shí),。
5.機(jī)臺(tái)可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析,。
6.機(jī)臺(tái)本身除了可作產(chǎn)品的失效分析外,還可結(jié)合Auto Handler,,做Mass Production之Open/Short Test,,可謂一機(jī)多用,。