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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器>集成電路測試與分選設(shè)備>探針臺>pw-800 手動點(diǎn)針工作站失效分析電性測試探針臺

pw-800 手動點(diǎn)針工作站失效分析電性測試探針臺

參考價(jià) 670000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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 儀準(zhǔn)科技(北京)有限公司是一家專業(yè)提供集成電路失效分析及可靠行測試的服務(wù)商

主要服務(wù)項(xiàng)目:半導(dǎo)體失效分析設(shè)備,元器件失效分析可靠性測試

非破壞性分析
 小型測試機(jī) / 半導(dǎo)體I-V特性曲線儀 / 探針臺 / 顯微鏡觀察分析 / 3D X-Ray / 超聲波掃描顯微鏡 /
破壞性分析
 激光開封 / 手動開封 / 酸自動開封機(jī) / 小型半導(dǎo)體器件銑床 / 微光分析儀 / 光致電分析儀 / 研磨拋光 / 探針臺 / 掃描電子顯微鏡/能譜分析 /
化學(xué)處理
 取晶 / 反應(yīng)離子刻蝕機(jī) / 碼點(diǎn)染色 / 顯微照相 / 電子掃描顯微鏡/能譜分析 /
聚焦離子束
 微線路修改 / 測試鍵生長 / 縱向微切片解剖 / 微區(qū)刻蝕 /
可靠性服務(wù)
 預(yù)處理 / 冷熱沖擊(TC) / 高壓蒸煮加速實(shí)驗(yàn)(HAST) / HTRB / 老化實(shí)驗(yàn)(Burn in) / 高壓高濕實(shí)驗(yàn)(SPP) /
靜電測試(ESD/HBM/MM)
 CDM / Latch up / HBM / MM /
可焊性測試
 沾濕天平(Wet Balance) / 錫須實(shí)驗(yàn)(Whisker) /
研磨/拋光等耗材銷售
 Allied / ProbeTips /

探針臺probe,,開封機(jī)laser decap,,紅外顯微鏡,微光顯微鏡EMMI,,IV自動曲線量測儀

手動點(diǎn)針工作站失效分析電性測試探針臺半導(dǎo)體領(lǐng)域探針臺

        應(yīng)用領(lǐng)域
●Failure analysis  集成電路失效分析         
●Wafer level  reliability晶元可靠性認(rèn)證
●Device characterization 元器件特性量測         
●Process modeling塑性過程測試(材料特性分析)
●IC Process  monitoring  制成監(jiān)控         
●Package part probing  IC封裝階段打線品質(zhì)測試
●Flat panel probing 液晶面板的特性測試         
●PC board probing  PC主板的電性測試
●ESD&TDR testing    ESD和TDR測試         
●Microwave  probing  微波量測(高頻)
●Solar太陽能領(lǐng)域檢測分析         
●LED,、OLED、LCD領(lǐng)域檢測分析

手動點(diǎn)針工作站失效分析電性測試探針臺半導(dǎo)體領(lǐng)域

型號:   PW-400                              
規(guī)格:
chuck尺寸100mm
X,Y移動行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm(選項(xiàng))
搭配AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個數(shù)2~4顆
適用領(lǐng)域:4寸Wafer,,如晶圓廠,、LED、學(xué)術(shù)單位等

手動點(diǎn)針工作站失效分析電性測試探針臺半導(dǎo)體領(lǐng)域

型號:   PW-600/PW-800

規(guī)格:
chuck尺寸150mm(200mm)
X,Y電動移動行程150mm(200mm)
chuck粗調(diào)升降8mm,,微調(diào)升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個數(shù)6~8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域:6寸/8寸Wafer,、IC測試之產(chǎn)品
 手動點(diǎn)針工作站失效分析電性測試探針臺半導(dǎo)體領(lǐng)域
 RF高頻探針臺

      

東、南,、西,、北測試臂
搭配美國GGB高頻測試頭
DC~10/40/50/67GHZ (GSG,GS,SG)
Pitch 100~1500um
探針材料:BeCu/Tungsten

 



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