全新多功能材料微區(qū)原位表征系統(tǒng),,可實現(xiàn)同位置,,同界面SEM和AFM測量
材料的性能在芯片制造,,新能源,醫(yī)療,機械,,機電等諸多領(lǐng)域起著舉足輕重的作用。隨著科學技術(shù)的進步,,人們發(fā)現(xiàn)材料學的宏觀性能往往取決于材料微區(qū)的性能累積,。因此,材料科學等研究領(lǐng)域的學者將研究重心放在了材料的微區(qū)組織和相關(guān)性能上,。當研究的對象尺寸從宏觀的厘米和毫米小到微米和納米時,,相關(guān)組織和性能的研究就需要特別注意不同區(qū)域組織和性能的對應關(guān)系。為了表征這種對應關(guān)系,,通常需要在不同的設(shè)備間進行切換,,很難實現(xiàn)在納米級精準度的前提下對某一微區(qū)進行表征,各種表征和性能的測量也很難鎖定需要的微區(qū)域,,所獲得的研究結(jié)果關(guān)聯(lián)性較弱,。
為了解決這一問題,Quantum Design公司推出了多功能材料微區(qū)原位表征系統(tǒng)-FusionScope,。該系統(tǒng)可以對材料納米級微區(qū)域進行原位二維和三維的形貌,、成分分析、力學性能,、電學性能,,磁學性能表征。同時,,F(xiàn)usionScope還可以搭配加熱/制冷樣品臺以及可傾轉(zhuǎn)到80°的大傾角樣品臺來滿足客戶的不同需求,,可廣泛滿足材料科學,納米結(jié)構(gòu),,半導體或太陽能電池,、生命科學等領(lǐng)域的應用。設(shè)備操作軟件簡單易用,,并且為剛接觸和有經(jīng)驗的使用者分別提供了不同使用模式,。設(shè)備后期維護簡單,,所占空間小,,方便使用。
圖1. Quantum Design材料微區(qū)性能綜合表征系統(tǒng)-FusionScope
材料微區(qū)性能綜合表征系統(tǒng)主要優(yōu)勢:
簡單易用
Quantum Design自主研發(fā)的AFM和SEM成熟集成方案,,自動化程度高,,軟件/硬件操作簡單易用;不僅能滿足有經(jīng)驗的使用者,,也能讓初學者快速上手,;
原位共享坐標測量
多種AFM功能與SEM原位聯(lián)用,發(fā)揮出兩種常用顯微鏡的技術(shù)優(yōu)勢,,實現(xiàn)同一時間,、同一樣品區(qū)域和相同條件下的原位共享坐標測量,,避免樣品轉(zhuǎn)移過程中的污染風險,特別適合環(huán)境敏感樣品,;
齊全的測量功能
多通道樣品特性成像,,并無縫關(guān)聯(lián)到三維形貌圖像中。AFM可測量的功能包括有:三維/二維表面形貌成像,,力學/機械性能測量,、電學測量、磁學測量,;SEM配備EDS功能,;
原位旋轉(zhuǎn)測量
利用SEM進行實時、快速,、精準導航AFM針尖,,從而實現(xiàn)AFM對感興趣區(qū)域的精準定位與測量。無需轉(zhuǎn)移樣品,,原位進行80° AFM與樣品臺同時旋轉(zhuǎn),;
更換樣品
FusionScope更換樣品僅需幾分鐘,簡單快速,。
功能展示
電子成像:
圖2. FusionScope和Hitachi Flex電子成像對比,。左側(cè)圖為FusionScope獲得結(jié)果,右圖為Hitachi Flex掃描電鏡結(jié)果
不銹鋼樣品微區(qū)電子成像-三維成像-磁學綜合表征:
圖3. FusionScope對不銹鋼樣品的微區(qū)進行電子成像,,三維成像和磁學性能綜合表征
BaTiO3樣品微區(qū)電子成像-三維成像-電學綜合表征:
圖4. FusionScope對BaTiO3樣品進行電子成像,,三維形貌和電學性能的綜合表征
BaTiO3樣品的EFM、AFM,、SEM掃描視頻
微觀力學性能表征:
圖5. 利用FusionScope的FIRE模式(Finite Impulse Response Excitation)對不同彈性模量的聚合物進行綜合表征
大尺寸樣品形貌綜合表征:
圖6. FusionScope對刀片樣品進行電子成像和三維成像綜合表征
FusionScope對刀片尖銳部分掃描視頻
相關(guān)產(chǎn)品
1,、多功能材料微區(qū)原位表征系統(tǒng)-FusionScope相關(guān)產(chǎn)品
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