掃描電鏡原位技術已經廣泛應用于材料科學研究的各個領域,，它可以將材料宏觀性能與微觀結構聯系起來，這對研發(fā)高性能新型材料非常有幫助,。但電鏡原位實驗從來都不是一個簡單的工作,，有的時候甚至還需要一些運氣。

為了讓電鏡原位實驗變得更加智能高效,，蔡司最新推出了掃描電鏡原位解決方案,。今天就讓我們一起看看，蔡司這套原位解決方案擁有哪些黑科技吧,！

高度集成化：告別手忙腳亂

蔡司掃描電鏡原位解決方案

蔡司掃描電鏡原位解決方案將掃描電鏡,、原位樣品臺、EBSD和EDS控制軟件深度整合,，在單臺PC的一個軟件中就可以控制所有硬件,，實現成像、分析以及原位樣品臺參數設定的高度集成,。

開創(chuàng)性自動化實驗流程：節(jié)省時間+解放雙手

在原位拉伸過程中的不銹鋼樣品不同ROI的SE和BSE圖像（AsB探測器）,，觀察到滑移帶形成。

蔡司原位電鏡解決方案可實現自動化原位實驗工作流程,，集成化軟件不僅可以自動控制樣品臺應力加載,，還可以設定多個感興趣區(qū)域（ROI），并對不同ROI進行自動追蹤,、自動聚焦,、自動獲取圖像。不同ROI的成像參數可以獨立設定,，系統還可以識別樣品斷裂狀態(tài)并自動終止實驗,。

從此原位實驗將變得自動智能，減少人工操作時間,，大幅提升測試效率,，并且可實現長達24小時的無人值守自動化測試,，這樣就可以充分利用夜晚時間，使電鏡利用率大大提升,。

自動獲取EBSD和EDS數據：獲取樣品全面信息

800°C下加熱17 小時的鋼鐵樣品自動采集到一系列EBSD圖像,，展示了晶界和晶粒取向的變化。

該套新解決方案的處理軟件不僅可以自動獲取圖像,，還加入了EBSD和EDS自動獲取功能,，可追蹤并獲取樣品同一位置的EBSD和EDS分析結果，全面分析材料變化過程,。

數據獲取和處理：高通量,、高質量、高效率

表面拋光的低碳鋼樣品 (S235JRC),。樣品表面上的小顆粒用作 DIC（數字圖像相關）的標記,。SE 圖像被導入 GOM關聯軟件進行 DIC 分析。圖像中可以顯示主要應變的幅度和方向,。

自動化高效測試意味著可以得到大量實驗數據,，不放過樣品每一個變化細節(jié)，獲取具有統計意義的結果,，而人工干預因素的減少也可以大大提升實驗可重復性和數據可靠性,。

當然，蔡司場發(fā)射掃描電鏡GEMINI技術也是獲取高質量,、高分辨數據的強有力保證,。該方案還配置有ZEISS-GOM關聯軟件，可對數據進行數字圖像相關（DIC）處理,，研究樣品表面應變分布,。

蔡司掃描電鏡原位解決方案整合了電鏡、原位臺,、EBSD與EDS軟件控制,，在進行原位加熱和拉伸實驗過程中加入高度自動化功能，使得在動態(tài)繪制應力應變曲線的同時,，能夠自動觀察金屬、合金,、聚合物,、塑料、復合材料和陶瓷等材料在高溫和外力下的變化情況,。

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