您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)! 登錄| 免費(fèi)注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當(dāng)前位置:上海麥科威半導(dǎo)體技術(shù)有限公司>>產(chǎn)品展示>>微納測(cè)試儀器>>薄膜應(yīng)力測(cè)試儀
薄膜應(yīng)力量測(cè)設(shè)備FLX系列設(shè)備是由日本TOHO公司所生產(chǎn)的,,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)薄膜應(yīng)力的量測(cè),。測(cè)試原理 在硅晶圓或者其他材料基地上附著薄膜,由于襯底于薄膜的物...
具備三維翹曲(平整度)及薄膜應(yīng)力的檢測(cè)功能,,適用于半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn),、半導(dǎo)體制程工藝開發(fā)、玻璃及陶瓷晶圓生產(chǎn),,尤其具有測(cè)量整面翹曲曲率分布的能力,。
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性,、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),,化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示:為規(guī)避購(gòu)買風(fēng)險(xiǎn),,建議您在購(gòu)買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量,。