目錄:寧波舜宇儀器有限公司>>智能裝備解決方案>>手機(jī)行業(yè)檢測設(shè)備>> MINSM-100IR檢測排片設(shè)備
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
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IR檢測排片設(shè)備用于手機(jī)濾光片上下表面及測面檢測,,設(shè)備采用轉(zhuǎn)盤式高速物料流轉(zhuǎn)方案,。設(shè)備包含Wafer并行高速上下料,Wafer 掃碼,、Wafer 擴(kuò)模,、頂針頂片、多吸嘴取片,、濾光片兩面缺陷檢測,、高精度排片、NG片回收等功能,。設(shè)備上表面及下表面?zhèn)让鏅z測工位,,通過高分辨率光學(xué)系統(tǒng),對濾光片崩點,、臟污,、劃傷、絲印進(jìn)行等進(jìn)行高精度測量檢測,。特別針對濾光片凹坑檢測這個業(yè)界難點,,該設(shè)備集成了我司最新研制的凹坑檢測專用光學(xué)系統(tǒng)實現(xiàn)了凹坑缺陷的高準(zhǔn)確率識別。另外,,設(shè)備具備缺陷分類,、SPC統(tǒng)計、MES數(shù)據(jù)上拋等信息化功能,。該設(shè)備為行業(yè)某頭部公司定制開發(fā),,為業(yè)內(nèi)具備濾光片上下表面缺陷全覆蓋檢測的高速面檢設(shè)備。
高速取排片
采用輕量化高速轉(zhuǎn)塔設(shè)計,,配合分離式下壓Z軸與XYU取排片平臺,,實現(xiàn)高速取排,,CT<0.7s。
IR片多類型缺陷檢測
IR檢測排片設(shè)備采用高分辨率光學(xué)系統(tǒng)對濾光片臟污,、印子,、劃傷、水印,、絲印相關(guān)缺陷及凹坑等進(jìn)行高精度檢測,。
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