原子力顯微鏡 參考價：面議
原子力顯微鏡可進行高精度的粗糙度,、臺階高度及微納米級別三維輪廓等測量,，同時可以測量相位,、電場,、磁場、導電力等其他各種高級物理量,。
橢偏儀 參考價：面議
橢偏儀：超薄膜的實時可視化分析測試,，實時觀察樣品微觀尺度上的結構?？梢詼y量諸如薄膜厚度,、折射率和吸收系數(shù)等參數(shù)。也可以對薄膜進行區(qū)域化(選區(qū))分析,，獲得所選區(qū)域...
白光干涉儀 參考價：面議
白光干涉垂直掃描和移相干涉測量法,，0.1nm臺階，采用TotalFocus 技術,，全視場真彩色圖像,。
三維光學輪廓儀 參考價：面議
多模組三維光學輪廓儀標配ZDot白光共聚焦逐層成像，可選裝多模式光學系統(tǒng),。
探針式輪廓儀（臺階儀） 參考價：面議
探針式輪廓儀（臺階儀）源自AFM的光學杠桿技術,，精確測量臺階高度及表面輪廓。
探針式輪廓儀（臺階儀） 參考價：面議
探針式輪廓儀（臺階儀）高精度,、低噪聲,、高穩(wěn)定性和大掃描量程，這些技術特點為P系列臺階儀在晶圓測試領域的廣泛使用奠定了堅實的基礎,，也為其拓展了在其他材料測試方面的...
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