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白光干涉儀 參考價(jià):面議
白光干涉垂直掃描和移相干涉測(cè)量法,0.1nm臺(tái)階,,采用TotalFocus 技術(shù),,全視場(chǎng)真彩色圖像。三維光學(xué)輪廓儀 參考價(jià):面議
多模組三維光學(xué)輪廓儀標(biāo)配ZDot白光共聚焦逐層成像,,可選裝多模式光學(xué)系統(tǒng),。探針式輪廓儀(臺(tái)階儀) 參考價(jià):面議
探針式輪廓儀(臺(tái)階儀)源自AFM的光學(xué)杠桿技術(shù),精確測(cè)量臺(tái)階高度及表面輪廓,。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)