液體樣品臺 參考價:面議
PicoFemto系列掃描電鏡液體樣品臺,基于MEMS芯片封裝及電學(xué)芯片技術(shù),,實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)原位液體-電化學(xué)實(shí)驗,。原位加熱臺 參考價:面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺基于MEMS加熱芯片技術(shù),溫度范圍:室溫至1200攝氏度,。納米探針臺 參考價:面議
SEM納米探針臺由澤攸科技研發(fā),,是一款具有高性能的科研設(shè)備,特別適用于需要高精度三維空間定位的研究領(lǐng)域,。這款探針臺不僅具備小尺寸大行程,、高精度以及易操作等優(yōu)點(diǎn),,...納米力學(xué)臺 參考價:面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學(xué)臺是動態(tài)觀察和分析納米材料力學(xué)行為的重要工具。加熱拉伸臺 參考價:面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡加熱拉伸臺是動態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂的重要工具,。多樣品桿 參考價:面議
PicoFemto系列透射電鏡多樣品桿,,可一次裝載3個標(biāo)準(zhǔn)TEM樣品,提高測試效率,,減少頻繁插拔樣品桿對測角臺的磨損,。原位MEMS 加熱/電學(xué)樣品桿系列 參考價:面議
原位MEMS加熱/電學(xué)樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡(TEM)設(shè)計的實(shí)驗工具,旨在滿足納米材料,、能源科學(xué)及電子器件研究領(lǐng)域?qū)υ粍討B(tài)表征的需求,。該系列產(chǎn)品基...TEM-STM樣品桿系列 參考價:面議
澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術(shù)的創(chuàng)新性原位透射電鏡(TEM)測量工具,為納米科學(xué)研究提供了全新的視角和手段,。該系列產(chǎn)品將掃描探針控制單元...三維重構(gòu)樣品桿 參考價:面議
PicoFemto系列透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿,,基于樣品端超薄設(shè)計,滿足大傾角傾轉(zhuǎn)和360度旋轉(zhuǎn)測試需求,。原位冷凍樣品桿系列 參考價:面議
原位冷凍樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡(TEM)設(shè)計的實(shí)驗工具,,旨在滿足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域?qū)Φ蜏丨h(huán)境下樣品表征的需求,。該系列產(chǎn)品基于標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡...原位多場耦合樣品桿 參考價:面議
PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿,,結(jié)合TEM+STM+MEMS原位技術(shù),通過更換不同類型的原位芯片及探針,,在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)光、電,、力,、熱多種原位...原位加熱/電學(xué)樣品桿 參考價:面議
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿,基于MEMS原位芯片技術(shù),,通過更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片,,在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。原位光學(xué)樣品桿 參考價:面議
PicoFemto系列透射電鏡原位光學(xué)樣品桿,,基于TEM-STM樣品桿技術(shù),,樣品桿內(nèi)集成光纖,桿末端可外接光源或光譜儀,,實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測量或光譜學(xué)表征研究...原位力學(xué)樣品桿 參考價:面議
PicoFemto系列透射電鏡原位力學(xué)樣品桿,,基于TEM-STM樣品桿技術(shù),集成力測量功能,,對樣品進(jìn)行壓縮/拉伸過程可實(shí)時輸出力-位移曲線,,支持力-電同時測量。原位電學(xué)測量樣品桿 參考價:面議
PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統(tǒng)源于中科院物理研究所SF1組(20世紀(jì)90年代),,圍繞原位電學(xué)測量樣品桿,,澤攸科技不斷進(jìn)行產(chǎn)品迭代及功能拓展,,已推出電...臺式掃描電鏡 參考價:面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡(SEM)憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計,、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展,,已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)