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目錄:安徽澤攸科技有限公司>>透射電鏡樣品桿>>原位樣品桿>> TEM-STM樣品桿系列

TEM-STM樣品桿系列
  • TEM-STM樣品桿系列
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 品牌 ZEPTOOLS/澤攸科技
  • 型號
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時間:2025-03-13 14:02:48瀏覽次數(shù):4531評價

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兼容性 適配Thermofisher/FEI,、JEOL、Hitachi透射電鏡 功能 常溫拉伸
樣品桿傾轉 單傾
澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術的創(chuàng)新性原位透射電鏡(TEM)測量工具,為納米科學研究提供了全新的視角和手段。該系列產品將掃描探針控制單元巧妙集成于標準外形的透射電鏡樣品桿中,能夠在透射電鏡腔體內實現(xiàn)對單個納米結構的精確操縱與電學測量。通過這一系統(tǒng),研究人員不僅可以實時動態(tài)地觀察樣品的晶體結構,、化學組分和元素價態(tài)的變化,還可以在多種外場環(huán)境下進行多維度的原位表征,。

TEM-STM樣品桿系列

產品介紹

TEM-STM樣品桿系列

TEM-STM測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。在進行原位操縱的同時利用透射電鏡及相關附件實時動態(tài)地對樣品的晶體結構,、化學組分,、元素價態(tài)進行綜合表征,極大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域,。


產品特色

1.電學測量指標

電流測量范圍: 1 nA - 30 mA,,多個量程

電流分辨率: 優(yōu)于100 fA

電壓輸出范圍:普通模式 ± 10 V,高壓模式 ± 150 V

自動I-V測量,、l-t 測量,,自動保存

可外接第三方源表滿足多種實驗需求

包含一個電流電壓測試單元

2.掃描探針操縱指標

粗調范圍: XY 方向 2.5 mm,Z 方向1.5 mm

細調范圍: XY 方向15 μm,,Z 方向1.5 μm

細調分辨率: XY 方向0.4 nm,,Z 方向0.04 nm

粗細調均為軟件控制


拓展產品

基于TEM-STM測量系統(tǒng),研究人員還可選擇掃描探針與多種外場耦合的原位測量系統(tǒng):

AFM力電測量系統(tǒng)                       光電測量系統(tǒng)                           低溫電學測量系統(tǒng)

納牛級力學傳感器                        雙向光纖輸出                           液氮低溫制冷

力學曲線輸出                               光電流測量                              低溫下電學測量

力-電同時測量                             光譜分析                                  低溫下力學操縱


高溫電學測量系統(tǒng)                       高溫力學測量系統(tǒng)                     多場原位測量系統(tǒng)

芯片式加熱                                 芯片式加熱                               芯片式加熱/加電

熱-電耦合                                   熱-力耦合                                 集成雙向光纖

高溫下力學操縱                          力學曲線輸出                            熱-電-力-光多場耦合


應用案例

PbTiO3/SrRuO3 界面處的三重極化                           電場作用下混合型疇結構到單一型疇結構的轉變

頂點的電場調控

TEM-STM樣品桿系列


部分產品精選

原位低溫TEM-STM測量系統(tǒng),、原位MST一體化測量系統(tǒng),、原位真空傳輸TEM-STM測量系統(tǒng)、

原位光學TEM-STM測量系統(tǒng),、原位雙傾TEM-STM測量系統(tǒng)


TEM-STM樣品桿系列


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