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表面光電壓法(Surface Photovoltage Method,,簡(jiǎn)稱SPV法)是通過測(cè)量由于光照在半導(dǎo)體材料表面產(chǎn)生的表面電壓來(lái)獲得少數(shù)載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度的方法,。其原理是:用能量大于半導(dǎo)體材料禁帶寬度的單色光照射在半導(dǎo)體材料表面,在其內(nèi)部產(chǎn)生電子-空穴對(duì),,受濃度梯度驅(qū)動(dòng)擴(kuò)散至半導(dǎo)體材料近表面空間電荷區(qū)的電子和空穴將被自建電場(chǎng)分離,,形成光生電壓,即表面光電壓
SPV法是表征半導(dǎo)體材料少子擴(kuò)散長(zhǎng)度的主要方法,,具有以下優(yōu)點(diǎn):
是一種穩(wěn)態(tài)方法,,與時(shí)間無(wú)關(guān),,避免了體內(nèi)和表面復(fù)合對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,。
一般情況下,表面復(fù)合過程不影響少子擴(kuò)散長(zhǎng)度的測(cè)試結(jié)果,,表面復(fù)合速率只對(duì)表面光電壓信號(hào)強(qiáng)度產(chǎn)生影響,,因此無(wú)須特殊處理材料的表面。
是一種無(wú)接觸的測(cè)試方法,,測(cè)試成本低,、易于操作、不容易受到干擾,,并且可以實(shí)施面掃描(mapping),。
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