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  專注于非接觸式半導(dǎo)體計量分析技術(shù)的開發(fā)和生產(chǎn) ,，攻克被國外卡脖子技術(shù),。

  產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光伏,、科研以及平板材料測試領(lǐng)域,。借助公司*計量分析測試技術(shù)，為晶圓,、碳化硅,、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控,，提供一整套完整測試和解決方案,。

  晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀,，渦流法低電阻率分析儀,，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測試儀,，少子壽命測試儀,，

樣品尺寸：2"-8"或者16mm×16mm的方形樣品；

遷移率測量范圍：100-20000（cm2/v.sec),；

方塊電阻測量范圍：100-3000（ohm/sq),；

載流子面密度測量范圍：1E11-1E14（cm-2）；

電磁鐵磁場強度：1.0T

探頭線圈直徑：15mm