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樣品尺寸：2"-8"或者16mm×16mm的方形樣品；

遷移率測(cè)量范圍：100-20000（cm2/v.sec),；

方塊電阻測(cè)量范圍：100-3000（ohm/sq),；

載流子面密度測(cè)量范圍：1E11-1E14（cm-2）,；

電磁鐵磁場(chǎng)強(qiáng)度：1.0T

探頭線圈直徑：15mm

專(zhuān)注于非接觸式半導(dǎo)體計(jì)量分析技術(shù)的開(kāi)發(fā)和生產(chǎn) ，攻克被國(guó)外卡脖子技術(shù),。

       產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體,、光伏、科研以及平板材料測(cè)試領(lǐng)域,。借助公司*計(jì)量分析測(cè)試技術(shù),，為晶圓、碳化硅,、硅片,、封裝測(cè)試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控，提供一整套完整測(cè)試和解決方案,。

晶圓電阻率測(cè)試儀,，硅片電阻率測(cè)試儀，渦流法低電阻率分析儀,，晶錠電阻率分析儀,，遷移率（霍爾）測(cè)試儀，少子壽命測(cè)試儀,，

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晶圓電阻率測(cè)試儀

硅片方阻測(cè)試儀

渦流法低電阻率分析儀

晶錠電阻率分析儀

少子壽命

霍爾遷移率等