目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>半導(dǎo)體材料測(cè)試>>體微缺陷測(cè)試>> LST體微缺陷測(cè)試設(shè)備
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更新時(shí)間：2025-01-23 13:06:03瀏覽次數(shù)：456評(píng)價(jià)
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物鏡自動(dòng)調(diào)節(jié)
納米級(jí)移動(dòng)
對(duì)缺陷濃度和尺寸更加靈敏
測(cè)試尺寸:20nm到15nm
缺陷濃度:1e5-2.5e10cm–3
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng),、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái),、激光器,、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品,、濱松光電探測(cè)器,、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng),、大塚 Otsuka 膜厚儀,、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng),。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展,，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,，客戶(hù)遍布全國(guó),。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場(chǎng)地位和影響力,。
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