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首頁>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體材料測試>>CV測試

  • 汞探針測試 參考價：面議

    LEI Model2017B,，通過汞探針接觸方法,，對各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料,。
    型號： LEI Model... 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市 對比
    汞探針測試
    2025/1/23 12:49:09301

  • 汞CV測試系統(tǒng) 參考價：面議

    汞CV測試系統(tǒng),，用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試;MCV-530L可測最大200mm的樣品,。
    型號： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市 對比
    CV測試
    2025/1/23 12:47:03421

  • CV-1500非接觸CV測試系統(tǒng) 參考價：面議

    CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺,，基于SDI Corona-Kelvin技術(shù),，可以進行非接觸C-V/I-V測試。
    型號： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市 對比
    CV測試
    2025/1/23 12:44:49368
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